Gebraucht JEOL JSM 6390 #293754494 zu verkaufen

JEOL JSM 6390 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop für bildgebende und analytische Anwendungen. Es verwendet eine Kombination aus hochauflösenden Sekundärelektronen (SE) und zurück gestreuten Elektronen (BSE) -Detektoren, um kontrastreiche Bilder von Proben bereitzustellen. JSM 6390 bietet auch Niederspannungs-SE-Bildgebung und einen hochauflösenden rückgestreuten Elektronendetektor, der eine maximale Auflösung von bis zu 5 Nanometern erreichen kann. Der automatisierte, computergesteuerte Betrieb ermöglicht eine präzise, wiederholbare Bildgebung und Analyse unterschiedlichster Probentypen. JEOL JSM 6390 verwendet eine moderne UHR monochromatische Elektronenkanone, die ein überlegenes Signal-Rausch-Verhältnis bietet und eine breite Palette von Beschleunigungsspannungen zwischen 1 kV und 30 kV bietet. Dadurch kann der Anwender den Grad der Probendurchdringung und -auflösung variieren, ohne dabei auf Auflösung zu verzichten. Der Hochleistungs-Sekundärelektronendetektor bietet eine Reihe von Abbildungsmodi, einschließlich Standard-, Differenz- und Niederspannungs-SE-Bildgebung. Der optionale hochauflösende BSE-Detektor ermöglicht sowohl eine kontrastreiche BSE-Bildgebung als auch eine quantitative Analyse. JSM 6390 verfügt auch über ein Hochgeschwindigkeits-Autofokus-System, das Dampfdruck zur präzisen Positionierung der Probe und des Strahls verwendet. Dieses System kombiniert mit einer automatisierten Probenaustauschanlage, einer integrierten motorisierten xy-Stufe und einem computergesteuerten Elektronenmikroskop-Steuersystem, um eine verbesserte Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Produktivität zu gewährleisten. Um den automatisierten Betrieb zu erleichtern, bietet JEOL JSM 6390 eine Reihe von Automatisierungs- und Analysesoftware-Paketen. Dazu gehören Fernbedienungssoftware, Echtzeit-Bildverarbeitungstools und Analysesoftware, die zur Fehleranalyse, Partikelanalyse, Bildanalyse und Datenmanipulation verwendet werden kann. Darüber hinaus können weitere spezialisierte Hardware wie automatisierte Reinigungssysteme sowie Ionen- und Gaspistolen zur weiteren Steuerung und Datenerfassung integriert werden. Insgesamt ist JSM 6390 ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Bildgebungs- und Analysefähigkeiten bietet. Es eignet sich für eine breite Palette von Anwendungen, einschließlich Fehleranalyse, Metallographie und nanoskalige Bildgebung. Die fortschrittliche Elektronenquelle, der automatisierte Probenaustausch und eine Reihe von Software- und Hardwarepaketen machen JEOL JSM 6390 zu einem leistungsstarken Werkzeug für detaillierte Bildgebung und Analyse.