Gebraucht JEOL JSM 6390LA #293609260 zu verkaufen

JEOL JSM 6390LA ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das speziell für den Einsatz in Halbleiterfehleranalyse- und Prozesssteuerungsanwendungen entwickelt wurde. Es ist ein variables Druck-Rasterelektronenmikroskop (VP-SEM), das überlegene bildgebende Fähigkeiten gegenüber herkömmlichen SEMs bietet. Die VP-SEM Elektronensäule ermöglicht ein breites Spektrum an Betriebsbedingungen, was zu höheren Sondierungstiefen und saubereren Bildern ohne Probenaufladung führt. Die Basisausrüstung ist mit einer Kalt-FEG-Pistole und einer Feldemissionselektronenquelle ausgestattet und bietet hervorragende Kohärenzeigenschaften und Strahlstabilität. Die Pistole ist mit einer Dual-Objektiv-Optik ausgelegt, die die Helligkeit und Auflösung der resultierenden Bilder verbessert. Eine selbstabstimmende Elektronensäule ermöglicht eine einfache Bedienung und benutzerdefinierte Techniken für optimale Ergebnisse. Mit einem in die Säule integrierten hochauflösenden Niedervakuum-SE-Detektor können JSM- 6390LA verbesserte Auflösungspegel von 1,3 nm und eine Detektionsgrenze von bis zu 10 keV erreichen. Die integrierte Auflösungskalibriereinheit bietet ein zuverlässiges und präzises Mittel, um Proben bis zum Nanometerstand zu analysieren. Zusätzlich enthält das Mikroskop einen erweiterten BackScatter Electron Detector (BSE) und einen Secondary Electron Detector (SE), um die bildgebenden Fähigkeiten weiter zu verbessern. In Bezug auf den Betrieb bietet JEOL JSM 6390LA eine einfach zu bedienende Benutzeroberfläche und optionale automatisierte oder praktische Kontrolle über alle Funktionen. Das SEM kann manuell bedient oder mit dem eingebauten Netzschalter ein- und ausgeschaltet werden. Weitere nützliche Funktionen sind ein Navigator, ein Videomonitor und ein beleuchtetes Retikel, um den Benutzer bei der Ausrichtung und Kalibrierung zu führen. Für mehr Sicherheit und Sicherheit bietet JSM 6390LA auch eine Vielzahl von Anwenderschutzmaßnahmen wie antielektromagnetische Störungen, elektromagnetische Abschirmung und antistatische Beschichtungen. Darüber hinaus umfasst die Maschine sowohl interne als auch externe Strahlaustastfunktionen, die eine Beschädigung von Proben durch Elektronenbestrahlung verhindern. Insgesamt ist JEOL JSM 6390LA ein Weltklasse-Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Bildqualität, Auflösung und Detektionsmöglichkeiten für Halbleiterfehleranalyse und Prozesssteuerung bietet. Mit einfach zu bedienenden Steuerungen, hervorragenden Optimierungsfunktionen und fortschrittlichen Sicherheitsmaßnahmen ist JSM 6390LA eine ideale Wahl für diejenigen, die die vielen Vorteile der SEM-Technologie nutzen möchten.