Gebraucht JEOL JSM 6390LA #293732138 zu verkaufen

JEOL JSM 6390LA Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine High-End-Benchtop-Ausrüstung, die unübertroffene Leistung für Forscher und Ingenieure bietet. Es verfügt über eine integrierte motorisierte Probenstufe mit hoher Genauigkeit und Gleichmäßigkeit der Bewegung für genaue Positionierung und Manipulation von Proben. JSM 6390LA verfügt über eine hochauflösende CCD-Kamera mit einem drehbaren Probenhalter mit vier Positionen, der mehrere Optionen für die Betrachtung und Analyse von Proben ermöglicht. Mit einem flüssig-stickstoffgekühlten Detektor bietet JEOL JSM 6390LA sowohl Helligkeits- als auch Dunkelfeldbildgebung in 1 nm Auflösung für eine breite Palette von Probentypen. JSM 6390LA basiert auf einer hoch energieeffizienten Thermoemissionskanone mit einem elektrostatischen Feldkompensationssystem. Dies ermöglicht eine rauscharme Abbildung bei hohen Stromdichten, was zu einem höheren Probenkontrast und einer besseren Empfindlichkeit für die Probenanalyse führt. JEOL JSM 6390LA einzigartige „Super-Speed“ Pistole Technologie ermöglicht extrem schnelle Scanzeiten, so dass es die perfekte Einheit für schnelle Antwortanalyse und Bildgebung. Die Bildverarbeitungsmaschine von JSM 6390LA bietet zwei sekundäre Elektronendetektoren, die sowohl Bilder von oben als auch von Winkelansichten ermöglichen. Mit seinem variablen Elektronenbestrahlungswinkel bietet JEOL JSM 6390LA ultrahochauflösende Bildgebung für eine Vielzahl von Proben bei Winkeln von bis zu 50 Grad. JSM 6390LA verfügt auch über eine Vielzahl von integrierten optischen Komponenten und zusätzliche Upgrades, wie einen digitalen Signalprozessor, eine Digitalkamera und eine LED-Lichtquelle. Dadurch kann der Anwender hochauflösende Bilder einer Vielzahl von Probengeometrien und Materialien aufnehmen. JEOL JSM 6390LA ist auf einer hochstabilen Plattform montiert, die durch zwei verstellbare vertikale Füße weiter stabilisiert wird. JSM 6390LA ist auf Benutzerfreundlichkeit zugeschnitten, mit einer übersichtlichen Benutzeroberfläche, einem intuitiven grafischen Softwarepaket und automatischer Probenausrichtung und -vorbereitung. Das Werkzeug ist in der Lage, Parameter wie Strahlspannung, Turbulenz, Unregelmäßigkeit, Brennweite und Geschwindigkeit zu steuern. Dies macht JEOL JSM 6390LA die perfekte Wahl für eine Reihe von Anwendungen, einschließlich Metallographie; Fehleranalyse; Halbleiterherstellung; und erweiterte Prozesssteuerung.