Gebraucht JEOL JSM 6390LA #9205545 zu verkaufen

JEOL JSM 6390LA ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um eine hochauflösende bildgebende Lösung für eine Vielzahl von Materialien und Proben bereitzustellen. Das Instrument verfügt über mehrere erweiterte Funktionen, mit denen Forscher Proben auf Nanoskala mit ausgezeichneter Genauigkeit und Zuverlässigkeit analysieren können. Das Mikroskop ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die einen Fernstrahlstrom für ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis erzeugt. Darüber hinaus ist die Quelle mit einem Monochromater ausgestattet, um die chromatische Aberration während der Bildgebung zu reduzieren. Darüber hinaus ist das SEM mit Antireflexionsbeschichtungen ausgestattet, die Hintergrundrauschbeiträge von gestreuten Elektronen reduzieren. Das Mikroskop wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Abbildungsmodi zu ermöglichen, einschließlich hochauflösender sekundärer Elektronenbildgebung, rückgestreuter Elektronenbildgebung und einem innovativen EDX-Farbdetektor für die Elementaranalyse. Das Design des Instruments ermöglicht das Umschalten zwischen bildgebenden Modi nahezu nahtlos ohne manuelle Anpassung, was einen mühelosen Übergang zwischen bildgebenden Techniken ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht der Aufbau des SEM die Verwendung mehrerer Probenhalter in einem einzigen Experiment, beispielsweise können ein Sekundärelektronendetektor, ein EDX-Detektor und ein rückgestreuter Elektronendetektor gleichzeitig verwendet werden. Darüber hinaus verfügt das Instrument über ein eingebautes Hochvakuum-Differentialpumpsystem, mit dem Proben mit minimaler Störung innerhalb der Vakuumkammer bewegt werden können. Das Gerät ist auch mit einer motorisierten Probenstufe ausgestattet, die es ermöglicht, große Proben automatisiert abzutasten und abzubilden. Die motorisierte Stufe ist in der Lage, die Probe mit einer Genauigkeit von bis zu 0,03 um zu positionieren und kann verwendet werden, um einen Bereich von hochauflösenden Bildern in wenigen Minuten zu erfassen. Insgesamt ist JSM 6390LA ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit vielen innovativen Funktionen, die entwickelt wurden, um eine zuverlässige und genaue bildgebende Lösung für eine Vielzahl von Materialien und Studien zu bieten. Das System ist hocheffizient und ermöglicht eine schnelle Bildgebung über mehrere Modi hinweg mit minimaler manueller Anpassung. Die Vielseitigkeit des Mikroskops macht es zu einem idealen Werkzeug für die Forschung, die eine hochauflösende, zuverlässige und fortschrittliche bildgebende Lösung erfordert.