Gebraucht JEOL JSM 6390LA #9402534 zu verkaufen

JEOL JSM 6390LA ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der wissenschaftlichen Gemeinschaft weit verbreitet ist. Seine Fähigkeiten gewährleisten maximale Flexibilität in Forschung und Betrieb, so dass es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Materialcharakterisierung, Fehleranalyse und Nanotechnologie. JSM 6390LA ist ein Feld-Emission SEM, was bedeutet, dass es thermische Feldemission von Elektronen und eine ultra-niedrige Vakuum-Schnittstelle verwendet, um die Auflösung zu verbessern und eine höhere Leistung zu erreichen. Sein Pistolenmodul besteht aus einer Kaltfeld-Emissionskanone, einem In-Linsen-Detektor und einem In-Linsen-Sekundärelektronendetektor, mit der Möglichkeit für andere Detektoren je nach Anwendung. Die Elektronenkanone verfügt über eine breite Palette von Stromversorgungen und Röntgenquellen und bietet die Flexibilität, eine Vielzahl von Elektronen- und Röntgenstrahlen zu verwenden. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist mit einer Reihe von analytischen Systemen ausgestattet, darunter EDS-, AAL- und CL-Systeme. Je nach Anwendung können Anwender eines der drei verschiedenen automatischen Bühnensysteme auswählen: manuelles, automatisches Laden/Entladen oder automatisches Stapeln/Entstapeln. Diese Funktionen ermöglichen eine schnelle und effiziente Probennutzung. JEOL JSM 6390LA bietet eine hohe Bildklarheit und Auflösung und erhält Bilder auf Nanometerebene. Eine motorisierte surrende Fähigkeit berücksichtigt die Vergrößerung bis zu 5200x, und sein Hochleistungshalbleitergerät mit 512 x 512 Pixeln ermöglicht schnellere ausfallende Zeiten. JSM 6390LA ist ein effizientes und leistungsstarkes SEM, das für eine Vielzahl von Aufgaben geeignet ist. Seine modulare Konstruktion und fortschrittliche analytische Systeme machen es zu einem wertvollen Werkzeug in vielen Bereichen der Forschung, so dass Benutzer ihre Forschungsziele zu erreichen.