Gebraucht JEOL JSM 6390LV #293637307 zu verkaufen

JEOL JSM 6390LV Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsfähiges und vielseitiges Forschungswerkzeug für die Erforschung mikroskopischer Strukturen und Oberflächen. Dieses hochauflösende SEM hat eine feine räumliche Auflösung von 1 nm bei einer Beschleunigungsspannung von 1 kV und eine laterale Auflösung von 0,5 nm bei 15 kV. Es hat auch ein großes Sichtfeld (FOV) von bis zu 30 mm und die Fähigkeit, über eine Probenfläche von bis zu 1000 cm2 abzubilden. JSM 6390LV verwendet einen Elektronenstrahl, um Bilder der Querschnittsmorphologie einer Probe zu erzeugen. Dieser Strahl wird durch das Linsensystem gebildet, das aus zwei Kondensatorlinsen und einer Objektivlinse besteht. Die Kondensatorlinsen fokussieren den Strahl auf die Probe, und die Objektivlinse dient zum Sammeln der vom Primärelektronenstrahl erzeugten Rückstreu- oder Sekundärelektronen. Diese Elektronen werden dann detektiert und in digitale Signale umgewandelt. JEOL JSM 6390LV kann mit einem Vakuumkammerdruckbereich von 2 x 10-4 bis 5 x 10-7 Torr arbeiten. Dieser Druckbereich ermöglicht sowohl hochauflösende als auch hochempfindliche Bildgebung. Das Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahmemerkmal dieses Mikroskops ermöglicht die Erfassung mehrerer Bilder in weniger als einer Sekunde. Dieses Mikroskop kann für eine Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, einschließlich Messung der Oberflächenrauhigkeit und Topographie, Untersuchung der Materialeigenschaften und Analyse der elementaren Zusammensetzung und Verteilung. Es kann auch verwendet werden, um Korngrenzen, Porosität und Defekte in einer Probe zu analysieren. Die hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten von JSM 6390LV es zu einem idealen Werkzeug für die Forschung in den Bereichen Nanotechnologie, Materialwissenschaft und Biowissenschaften machen. Mit seiner intuitiven Benutzeroberfläche und erweiterten Bildgebungsfunktionen kann es sowohl in industriellen als auch in akademischen Umgebungen verwendet werden. Mit dem richtigen Zubehör kann JEOL JSM 6390LV sogar in Hochgeschwindigkeitsanwendungen wie Fehleranalyse und Fehlersuche eingesetzt werden.