Gebraucht JEOL JSM 6390LV #293647290 zu verkaufen
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ID: 293647290
Weinlese: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM)
GATAN Alto 2100 Cryo chamber
Resolution: 3.0µm at 30kV and 15µm at 1kV
Accelerating voltage range: 0.5kV-30kV
Magnification range: 5x - 300,00x
Imaging modes:
Secondary Electron (SE)
Back Scattered Electron (BSE)
Specimen size: 150mm x 45mm
Specimen stage: Eucentric stage axis motorization
Automated filament heating and alignment
2006 vintage.
JEOL JSM 6390LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das für eine Reihe anspruchsvoller Anwendungen von der Materialcharakterisierung bis zur Abbildung einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Es ist die neueste Generation unserer LV-Serie, die bahnbrechende Innovationen mit fortschrittlichen bildgebenden und analytischen Fähigkeiten kombiniert. JSM 6390LV verwendet ein hochauflösendes Bildverarbeitungssystem, das um eine Reihe von Funktionen erweitert wird und es Benutzern ermöglicht, Proben mit hervorragender Klarheit zu erkunden. Darüber hinaus ermöglicht die aktualisierte digitale Peltier-Stufe es Benutzern, Proben bei Temperaturen von -50 ° C bis + 500 ° C zu scannen; ermöglicht eine weitere Untersuchung von Proben mit komplizierten nanometrischen Merkmalen unter selbst extremen Bedingungen. Für Spitzenauflösung und Genauigkeit verwendet JEOL JSM 6390LV eine variable Strahlspannung von 0.5-30kV und eine Beschleunigungsspannung von 0.5-30kV. Dies ermöglicht einen effektiven Vergrößerungsbereich von x1.000 bis x 400.000, was den Anwendern einen eingehenden Einblick in die Struktur ihrer Probe ermöglicht. Dies ermöglicht auch eine beeindruckende Minimierung der Drift, unbeeinflusst von Umweltfaktoren wie Vibrationen, um zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse zu gewährleisten. JSM 6390LV besteht ebenfalls aus zwei parallelen Detektoren; einen Sekundärelektronendetektor (SED) und einen Rückstreuelektronendetektor (BSD). Durch die Verwendung dieser proprietären Detektoren können Benutzer verschiedene Informationsebenen über ihre Probe erhalten. Winkelextraktion ermöglicht eine verbesserte Oberflächendetails durch die SED, während die BSD gibt größere Einblicke in die elementare Zusammensetzung der Probe mit einem Array von Analysemodi. Dieses Modell verfügt auch über ein integriertes Photomikroskop, so dass Benutzer leicht zwischen dem SEM und Photomikroskop wechseln können, ohne ihre Probe zu stören. Dieses vielseitige Tool ist ein unschätzbares Gut, da es dem Benutzer ermöglicht, mehrere Experimente mit einem Setup durchzuführen, was wertvolle Zeit und Ressourcen spart. JEOL JSM 6390LV ist das ideale Instrument für jedes Labor, das Oberflächenanalyseexperimente durchführt. Seine vielseitigen Fähigkeiten, erweiterten Funktionen und benutzerfreundliche Steuerung machen es zu einem Muss für jede Oberflächeninspektion, Fehleranalyse oder Materialcharakterisierung Forschungslabor.
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