Gebraucht JEOL JSM 6390LV #293810359 zu verkaufen

JEOL JSM 6390LV ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in der Materialanalyse und Fehleranalyse entwickelt wurde. Es ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, um einen feinfokussierten Elektronenstrahl zu erzeugen, mit dem eine Probe gescannt und ein Bild erzeugt wird. Das Mikroskop verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, die es dem Benutzer ermöglichen, hochauflösende Bilder zu erhalten, zusätzlich zu einer Reihe von Optionen für die Probenvorbereitung und -analyse. JSM 6390LV bietet ein großes Sichtfeld und hat eine Arbeitskapazität von 10nm bis 30µm. Die FEG verfügt über eine Feldkrümmungskompensation, die eine verbesserte Bildauflösung ermöglicht. Die Beschleunigungsspannung kann von 0.9kV bis 30kV eingestellt werden und bietet eine Reihe von zielgerichteten Anwendungen. Das Mikroskop verfügt zudem über ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis und sorgt für hervorragende Kontrast- und Phasenbilder. Zusätzlich ist JEOL JSM 6390LV mit einem Energiefilter ausgestattet, der die Wellenlängen-Dispersionsspektroskopie (WDS) und die Energiedispersive Spektroskopie (EDS) ermöglicht. JSM 6390LV wird mit einer Reihe von Probenhaltern geliefert, darunter ein mit Wolfram gekippter, kohlenstoffbeschichteter Halter, ein ausgesparter Probenhalter und ein In-Linsen-Probenhalter. Diese weist insbesondere eine 6-achsige motorisierte Probenbewegung auf, die es dem Benutzer ermöglicht, die Probe im Elektronenstrahl genau zu positionieren. Das SEM ist auch mit einer Hochvakuum-Präparations- und Beobachtungskammer ausgestattet, die eine in situ sekundäre Elektronenbildgebung ermöglicht. Zur Unterstützung der Benutzerfreundlichkeit können die Modifikationsstufe, die Probenhalter und die Beobachtungskammer alle von einem einzigen benutzerfreundlichen, mehrsprachigen Touchscreen aus gesteuert werden. Darüber hinaus können alle Mikroskopdaten, einschließlich Bilder und gespeicherte Informationen, über ein Netzwerk aus der Ferne abgerufen und visualisiert werden, was eine Zusammenarbeit zwischen den Benutzern ermöglicht. Zusammenfassend ist JEOL JSM 6390LV ein hochfähiges SEM, das hochauflösende Bildgebung mit einer breiten Palette von Anwendungen bietet. Es bietet auch eine Reihe von Funktionen, die Benutzerfreundlichkeit zu verbessern, wie eine ferngesteuerte Touchscreen-Schnittstelle, so dass es ein ideales Werkzeug für Materialien und Fehleranalyse.