Gebraucht JEOL JSM 6390LV #9103749 zu verkaufen

JEOL JSM 6390LV ist ein Rasterelektronenmikroskop für Niederspannungsoperationen. Es ist mit einer umgekehrten Säule ausgestattet, die es für fortgeschrittene Forschung sowie pädagogischen Einsatz sehr geeignet macht. Dieses Mikroskop nutzt eine variable Beschleunigungsspannung von 0 bis 30 kV mit einer maximalen Auflösung von 3,2 Nanometern und einer Vergrößerung von bis zu 200,000X. JSM 6390LV wird durch JEOL ESPe-Detektor ergänzt, der für eine Reihe von bildgebenden Techniken wie Automatic Retarding, SEAD, EDX und WDS verwendet werden kann. Dieses Mikroskop kommt auch bequem mit einer kompakten Optik/Verschlusseinheit, so dass es einfach zu manövrieren und auf oder in der Nähe der Probe platzieren, so dass eine ungehinderte Beobachtung. JEOL JSM 6390LV verfügt darüber hinaus über eine effiziente Kaltfeldpistole, die aufgrund ihres geringen Stromverbrauchs längere Betriebszeiten ermöglicht. Die Software, die mit diesem Mikroskop geliefert wird, ist CES 2.1, und es bietet volle Kontrolle der Säulenparameter, zusammen mit ausgezeichneten Stabilitätsdaten. Mit dieser Software kann die Probenumgebung über den digitalen Bildprozessor überwacht und der Vakuumstatus oder der Emissionsstrom der Elektronenkanone überwacht werden. Es kann auch verwendet werden, um Daten und Bilder zu speichern oder sogar mit dem Postprozessor zu verarbeiten. JSM 6390LV bietet mit seiner automatisierten 6-Achsen-Probenstufe auch ultimative Möglichkeiten zur Bearbeitung von Proben. Die Stufe bietet eine 360 ° -Drehung der Probe in allen drei Ebenen sowie eine präzise Probenplatzierung mit Nanometergenauigkeit. Dies ermöglicht eine reaktionsschnelle und stressfreie Probenorientierung und -manipulation sowie eine schnelle Rüstzeit belasteter Proben. Insgesamt ist JEOL JSM 6390LV eine ausgezeichnete Wahl für fortgeschrittene Forschung und Bildungszwecke gleichermaßen, mit seinem niedrigen Stromverbrauch, hoher Auflösung, flexibler Software und außergewöhnlichen Beispielverarbeitungsfunktionen.