Gebraucht JEOL JSM 6390LV #9193088 zu verkaufen

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ID: 9193088
Scanning electron microscope Specifications: Resolution: HV Mode: 3.0 nm (30kV), 15 nm (1kV) LV Mode: 4.0 nm (30kV) Magnification: 8x to 300,000x (at 11kV or higher) 5x to 300,000x (at 10kV or lower) User operation recipe: Optics Specimen stage Image mode LV Pressure Standard recipe Image mode: Secondary electron image Composition Topography Shadowed Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV Filament: Factory pre-centered filament Electron gun: Fully automated Manual override Auto functions: Focus Brightness Contrast Stigmator Specimen stage: Large eucentric type X: 80mm Y: 40mm Z: 5mm to 48mm Tilt: -10° to +90° Rotation: 360° Pumping system: Fully automated DP: 1 RP: 1 or 2 Switching vacuum mode: Less than 1 minute LV Pressure: 1 to 270 Pa JED-2300 EDS: Built in Principal options: Backscattered electron detector Secondary electron detector for low vacuum Wave length dispersive X-ray analyzer (WDS) Specimen exchange airlock chamber Chamber scope Operation knobs Specimen cooling unit LaB6 electron gun Report creation software (SMile View) Operation console (750mm wide, 900mm wide, 1100mm wide) Computer & peripherals: HP Z230, CORE E3-1225v3 3.2GHz Processor with 4GB RAM 500GB SATA 1st HDD 16XDVD+/-RW SATA USB Keyboard & optical mouse ADAPTEC PCI SCSI 2940AU Host controller Upgrade: Windows7 OS 19" Flat panel LCD monitor EDAX EDS Not included Power: Single-phase, 100V AC, 50/60Hz 3.0kVA Voltage regulation within ±10% (voltage drop at 3.0 kVA within 3%).
JEOL JSM 6390LV ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Abbildung einer Vielzahl von Materialien und Probenbreiten entwickelt wurde. Es kombiniert eine große vertikale Säule mit einer einzigartigen Weltklasse-Feldemissionskanone (FEG) für die hochauflösende Abbildung von Proben bis zu einer Auflösung von 0,4 Nanometern. Das Mikroskop enthält eine Vielzahl von Funktionen, um Forschern zu helfen, das Beste aus ihren Studien zu machen. Einige dieser Merkmale umfassen: Abbildungsmodi wie rückgestreute Elektronenbildgebung (BSE), SEI (sekundäre Elektronenbildgebung), SEVI (Bildgebung mit variabler sekundärer Elektronenintensität), EDX (energiedispersive Röntgenspektroskopie), Röntgenspektroskopie (Rückseite) Das Mikroskop ist mit einem großen 3-Achsen-Manipulator ausgestattet, der es Anwendern ermöglicht, die Probe während der SEM-Bildgebung schnell und präzise zu manipulieren. Es ist auch mit einem automatisierten XYZ-4-Achsen-Roboterprobenhandler ausgestattet, mit dem Forscher Proben automatisch austauschen und ihre Bildpositionen anpassen können. JSM 6390LV ist auch mit verschiedenen Umweltoptionen wie Niedervakuum-Cryo-SEM, Cryo-SEM für niedrige Temperaturen und Hochtemperatur-SEM für bis zu 1000 ° C ausgestattet. Darüber hinaus weist die gebeugte Rückstreuung Ionenstrahl-Bildgebung (IBI) eine hohe räumliche Auflösung von bis zu 2 nm auf. Diese Funktionen ermöglichen es Forschern, eine vollständige Palette von hochauflösenden Bildgebungsfunktionen für unterschiedliche Anwendungsanforderungen zu haben. Schließlich enthält das Mikroskop die branchenführende Pure ChromView-Software, die der Benutzer steuern kann. Diese Software ermöglicht eine komfortable und komfortable Bedienung des Mikroskops und ermöglicht es Benutzern, innerhalb von Minuten hochauflösende und Videobilder zu erhalten. Abschließend bietet JEOL JSM 6390LV Forschern ein zuverlässiges und leistungsstarkes SEM-System, das eine breite Palette hochauflösender Bildgebungsfunktionen sowie eine Reihe automatisierter Funktionen bietet. Dieses Mikroskop kann in einer Vielzahl von Studien eingesetzt werden, die von Materialwissenschaften und Nanotechnologie bis hin zu industrieller Prozesskontrolle und biomedizinischen Anwendungen reichen.
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