Gebraucht JEOL JSM 6390LV #9402759 zu verkaufen

JEOL JSM 6390LV Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches und zuverlässiges Instrument, das exzellente Bildgebungs- und Analysefunktionen für eine Vielzahl von Anwendungen in einer Vielzahl von Branchen bietet. Ausgestattet mit formidabler Technologie und einer einzigartigen Bewegungsflexibilität ermöglicht es hochauflösende Bildgebungs- und Materialcharakterisierungen für eine Vielzahl von Anwendungen in den Material- und Ingenieurwissenschaften, Biologie und Life Sciences, Geowissenschaften, Halbleiter- und Mikroelektronik und anderen verwandten Bereichen. JSM 6390LV verfügt über eine leistungsstarke Beschleunigungsspannung von 1,0-30,0 kV und einen maximalen Strom von 10,0 µA. Zusätzlich ist es mit einer hochauflösenden Feldemissionskanone (FEG) und einem direkten Detektionssystemmechanismus ausgestattet, der einen hervorragenden Scanbereich und eine hervorragende Auflösung garantiert. Dieses fortschrittliche Instrument ist auch mit einem intuitiven und ergonomischen vertikalen Stufenkippantrieb gebaut, der es ermöglicht, Beschleunigungsspannung und Strom in kleinen Schritten sowie zweiachsige Manipulation der Probe anzupassen. Darüber hinaus bieten das hochauflösende digitale Bildgebungssystem und die automatisierte Navigationsoption dem Anwender eine einfache und produktive Möglichkeit, zuverlässige Messungen zu erhalten. Darüber hinaus bietet die integrierte Software Zugriff auf eine Reihe von Funktionen, darunter automatisierte 3D-Bildgebung mit ultrahoher Auflösung. JEOL JSM 6390LV ist mit zusätzlichen Technologien ausgestattet, um die Leistung der Probenanalyse zu erhöhen: Die Standard-Peltier-Stufe bietet eine komfortable und präzise automatisierte Erwärmung, Kühlung und Entlüftung von Proben, während ein Energiefilter in der Lage ist, niederenergetische Elektronen aus der Probe zu entfernen. Es bietet hervorragenden natürlichen Kontrast und Backscatter-Bildgebung, zusammen mit der Fähigkeit, extrem flache Oberflächentopographie zu erfassen. JSM 6390LV ist auch mit leistungsstarker Software für verbesserte Datenerfassungs- und Analysefunktionen ausgestattet. Seine erweiterte GUI (grafische Benutzeroberfläche) ermöglicht es auch Anfängern, das Mikroskop schnell zu verstehen und zu bedienen. Eine optionale EBSD-Analyse (Electron Back-Scatter Diffraction) bietet eine schnelle und einfache kristallographische Abbildung einer Probenoberfläche. JEOL JSM 6390LV ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das den Anforderungen aktueller und zukünftiger Forschung und Experimente gerecht wird. Mit modernster Technologie, ergonomisch gestalteten Bedienelementen und einem breiten Spektrum an optionalem Zubehör eignet es sich gut für den Einsatz in vielen Industrie- und Forschungsanwendungen.