Gebraucht JEOL JSM 6400 #293763923 zu verkaufen

JEOL JSM 6400 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges analytisches Werkzeug, das es Forschern ermöglicht, die Nanostruktur, Chemie und elektronischen Eigenschaften von Materialien zu untersuchen. Dieses High-End-Multifunktionsinstrument wurde entwickelt, um hochauflösende Bilder und Daten mit Einfachheit und Genauigkeit zu erzeugen. JSM 6400 verfügt über eine Elektronenkanone mit vier Kanonen, darunter eine hocheffiziente, dimensionsgesteuerte Feldemissionskanone, eine Kaltkathodenkanone und zwei thermisch unterstützte Kanonen. Dieses System wurde entwickelt, um die hochauflösenden bildgebenden Funktionen und den breiten Dynamikbereich bereitzustellen, der erforderlich ist, um die Nanoscale-strukturellen Details einer Vielzahl von Materialien genau zu charakterisieren. Um die Fähigkeiten der EDX-Analyseeinheit für JEOL JSM 6400 weiter zu verbessern, steht die Option X-MAXN Silicon Drift Detector (SDD) zur Verfügung. Dieser Detektor bietet eine hohe Energieauflösung sowie ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis zur Detektion kleiner Unterschiede zwischen Lichtelementen in dünnen Proben. Der SDD bietet einen Vorteil gegenüber anderen energiedispersiven Röntgen- (EDX) Detektoren, da er eine erhöhte Zählrate und kürzere Zählzeit bietet. Neben den bildgebenden Funktionen der Elektronenkanone und des EDX-Detektors verfügt der JSM 6400 auch über einen Off-Axis Infrarot (IR) bildgebenden Detektor. Dieser Detektor ermöglicht es Forschern, Proben abzubilden und zu analysieren, die geringe Mengen an organischem Material enthalten, wie Biomoleküle, sowie andere Merkmale, die für ein Standard-SEM möglicherweise nicht sichtbar sind. Um mehr Flexibilität und Funktionalität zu bieten, ist JEOL JSM 6400 mit einer breiten Palette computergesteuerter Funktionen ausgestattet. Das Instrument ist in der Lage, mit einer Vielzahl von Zubehör und automatisierten Funktionen wie einer automatisierten Bühne, automatisierten Bilderfassungen und einem Multi-Sample-Automounter zu verbinden. Diese Funktionen ermöglichen es Forschern, größere Datensätze mit mehr Genauigkeit und Geschwindigkeit aufzubauen. Insgesamt ist JSM 6400 ein sehr vielseitiges, fortschrittliches SEM für eine breite Palette von Materialanalyseanwendungen. Es ist Hochleistungs-Elektronenkanonen-Tool, EDX-Detektor, IR-Bildgebungsdetektor und verschiedene computergesteuerte automatisierte Funktionen ermöglichen es Forschern, hochauflösende, genaue Charakterisierung einer Vielzahl von Probentypen durchzuführen.