Gebraucht JEOL JSM 6400 #9075095 zu verkaufen

Das JEOL JSM 6400 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsstarkes und vielseitiges analytisches Instrument, das in der Lage ist, hochauflösende Bilder von organischen und anorganischen Materialien zu erzeugen. Das Instrument bietet eine breite Palette von Funktionen und Funktionen mit beispielloser Benutzerfreundlichkeit. Die fortschrittliche Elektronenoptik von JSM 6400 ermöglicht es Benutzern, Probenoberflächen mit Auflösungen in der Größenordnung von weniger als einem Tausendstel Millimeter abzubilden. Dies bietet detaillierte topographische Karten hochkomplexer 3D-Strukturen, die für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden können, von der Untersuchung von Oberflächeneigenschaften bis zur Durchführung automatisierter Punkt-zu-Punkt-Messungen. Die analytische Leistung von JEOL JSM 6400 eignet sich besonders gut für die Analyse von Materialien wie Isolatoren, Halbleitern, Verpackungsmaterialien, Leiterplatten und MEMS-Komponenten. Das Instrument ist in der Lage, mit einer Auswahl von Elektronenenergie abzubilden und Potenziale zu beschleunigen, was es ideal für eine Vielzahl von Bereichen macht, von der Fehleranalyse und Qualitätskontrolle bis zur materialwissenschaftlichen Forschung. Für die Abbildung biologischer Proben ist das Instrument mit einer variablen Druck- (VP) oder Niedervakuumkammer ausgestattet, die eine verbesserte Abbildung von nichtleitenden Proben wie Proteinen und anderen organischen Verbindungen ermöglicht. Darüber hinaus steht ein Array von Detektoren zur Sammlung von rückgestreuten Elektronen (BSE), Sekundärelektronen (SE), Röntgenstrahlen (EDAX) und Kathodolumineszenz (CL) zur Verfügung, was JSM 6400 zu einem leistungsstarken Werkzeug zur Materialcharakterisierung macht. Neben der Bildgebung ist das Gerät in der Lage, Punkt-zu-Punkt-Messungen zu automatisieren, die eine gleichzeitige Abtastung und Datenerfassung ermöglichen. Diese spezifische Funktion kann für eine Reihe von analytischen Anwendungen wie Analyse der Probenoberflächenrauhigkeit, Oberflächen-/Volumenprofile, Bestimmung der Polarität/Ladungsverteilung und Korngröße/Formanalyse verwendet werden. Insgesamt bietet JEOL JSM 6400 eine breite Palette von erweiterten Funktionen und Funktionen, so dass es die ideale Wahl für eine Vielzahl von Forschungs- und Analyseanwendungen ist. Mit zuverlässiger Leistung, intuitiver Bedienung und einer umfassenden Auswahl an Analysemöglichkeiten bietet JSM 6400 Forschern ein unschätzbares Werkzeug, um selbst die komplexesten Materialien zu untersuchen.