Gebraucht JEOL JSM 6400 #9079566 zu verkaufen

JEOL JSM 6400 ist ein Rasterelektronenmikroskop mit Spitzentechnologie, das für maximale Klarheit und Präzision in der Mikroskopie-Bildgebung entwickelt wurde. Es ist effizient, Oberflächentopographie, Zusammensetzung und sogar dreidimensionale Informationen zu finden und zu untersuchen. Es bietet eine beispiellose Auflösung und Schärfentiefe im Bereich von 1 nm in der Elementar- und Paketanalyse sowie für die zerstörungsfreie Analyse von Halbleiterbauelementen. Darüber hinaus kann es eine breite Palette von Materialien mit einer hohen Geschwindigkeit und Genauigkeit erkennen. JSM 6400 verfügt über mehrere Funktionen, die überlegene Bildgebungsfunktionen und Genauigkeit ermöglichen. Die fortschrittliche Kombination aus einem Sekundärelektronendetektor und drei Hilfsdetektoren bietet ihm hochpräzise Analysefunktionen. Seine große Kammergröße und der erhöhte Vergrößerungsbereich bieten beispiellose Fokustiefe und Auflösung. Seine Kammer ist in der Lage, verschiedene Temperaturen zu widerstehen, um die Untersuchung von Materialien unter bestimmten thermodynamischen Bedingungen zu ermöglichen. JEOL JSM 6400 eignet sich für verschiedene Anwendungsbereiche wie Materialwissenschaft, Life Science, Halbleiterherstellung, Metallurgie und Dünnschichtanalyse. Seine Flexibilität eignet sich auch für die MIN- und SAM-Bildgebung. Aufgrund seiner fortschrittlichen Fähigkeiten ist JSM 6400 in der Lage, Daten über Oberflächentopographie, Zusammensetzung, chemische Bindung sowie dreidimensionale Analyse bereitzustellen. Abschließend ist JEOL JSM 6400 ein führendes Rasterelektronenmikroskop, das eine kristallklare Bildgebung und Präzisionsanalyse von Materialien ermöglicht. Sein Leistungsspektrum und seine Leistungsfähigkeit bei verschiedenen Temperaturbedingungen machen es zu einem geeigneten Forschungstool für eine Vielzahl von Branchen. Es ist eines der genauesten und zuverlässigsten Mikroskope für die Bildgebung und Datenerfassung.