Gebraucht JEOL JSM 6400 #9171178 zu verkaufen

JEOL JSM 6400 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es ist für eine breite Palette von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen konzipiert. Das einzigartige Design des Instruments umfasst eine Doppelsäulen-aufrechte Säulenstruktur mit geringen Streumagnetfeldern und ein leistungsstarkes elektrostatisches Strahlblockiersystem. Dies ermöglicht eine höhere Bildqualität und Genauigkeit. JSM 6400 ist mit einer Schottky Field Emission Elektronenquelle ausgestattet, die eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Die hohe Stabilität des Instruments sorgt dafür, dass die gesammelten Daten wiederholbar und reproduzierbar sind. JEOL JSM 6400 ist ein variabler Druck SEM, der Proben von 1 Pa bis 1 Torr abbilden kann. So können Forscher Proben beobachten, ohne sie zu trocknen oder zu kondensieren. Das Instrument verfügt über einen schnellen Dynamikbereich von Mikroampere bis hin zu High Volt, der die Visualisierung sowohl einfacher als auch komplexer Proben ermöglicht. Es hat auch ein fortschrittliches chromatisches Vakuumsystem, das die einfache Einstellung von Elektronenenergien erleichtert und die Ausbreitung von Kontaminationen verhindert. JSM 6400 ist ein schnelles und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop mit hohem Durchsatz. Es verfügt über ein überlegenes Signal-Rausch-Verhältnis von 16:1 und einen zweikanaligen BSE-Detektor mit bis zu 1024 x 1024 Auflösung. Das Instrument weist eine große Sekundärelektronendetektionsfläche auf, die eine verbesserte Bildqualität bei höheren Vergrößerungen ermöglicht. Dies gibt Forschern eine größere Kontrolle über den bildgebenden Prozess und erleichtert die Analyse von Proben. In Bezug auf die Datenerfassung verfügt JEOL JSM 6400 über eine breite Palette von Optionen, einschließlich SE, BSE und GSE-Bildgebung. Das Instrument verfügt auch über die Möglichkeit der automatisierten Bühnenabtastung, was die Bilderfassung erheblich vereinfacht. Das automatisierte Bühnenscannen trägt außerdem zur Steigerung der Experimentiereffizienz und -genauigkeit bei. Darüber hinaus bietet JSM 6400 sowohl manuelle als auch computergesteuerte Bildanalyse, die Forschern eine Vielzahl von Nachbildungsoptionen bietet. JEOL JSM 6400 ist ein fortschrittliches und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop. Es bietet eine Reihe von Funktionen, darunter ein chromatisches Vakuumsystem, einen schnellen Dynamikbereich und automatisiertes Bühnenscannen. Diese Eigenschaften ermöglichen es Forschern, zusammen mit seinem zweikanaligen BSE-Detektor Proben genau und reproduzierbar zu analysieren und qualitativ hochwertige Bilder zu erhalten.