Gebraucht JEOL JSM 6400 #9259735 zu verkaufen

JEOL JSM 6400 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochauflösende bildgebende und analytische Anwendungen entwickelt wurde. Es wurde speziell entwickelt, um den Anforderungen des modernen Mikroskopisten mit innovativen Eigenschaften und hoher Standardleistung gerecht zu werden. Das Mikroskop ist mit einer Punkt-zu-Punkt-Auflösung von 3,3 nm ausgestattet, die mit dem EHT-2 Detektor hochauflösende Bilder erzeugen kann. Eine Luftschleusenkammer am Mikroskop ermöglicht das Einbringen von Proben und die sichere Manipulation von Proben während der Bildgebung. Dies ermöglicht die Probenmanipulation während der Bildgebung sowie den Probentransfer vom Mikroskop zu einem angeschlossenen Kryoprobe. Die Kristallographie-Option von JSM 6400 ermöglicht die Analyse kristalliner Strukturen und bietet die Möglichkeit, 3D-Rekonstruktionen des gesamten Kristallgitters zu erstellen. Dies ermöglicht eine leichtere Identifizierung von kristallinen Phasen, Mikrostrukturen und Fehlerverteilungen. JEOL JSM 6400 ist auch in der Lage, fortschrittliche Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Bildgebung durchzuführen. Diese fortschrittliche bildgebende Technik kann verwendet werden, um nanoskalige Materialien, Nanofabrikation und chemische Zusammensetzung weiter zu analysieren. Es kann verwendet werden, um einzelne Atome oder Moleküle zu beobachten, was für das Verständnis physikalischer und chemischer Eigenschaften auf der Nanometerskala wichtig ist. JSM 6400 ist ein vielseitiges Werkzeug für bildgebende und analytische Anwendungen mit einer Reihe von Funktionen, mit denen es für eine Vielzahl von Anwendungsanforderungen verwendet werden kann. Seine fortschrittliche Leistung und Fähigkeit, kombiniert mit seiner benutzerfreundlichen Bedienung, machen es zur perfekten Wahl für jeden modernen Mikroskopisten.