Gebraucht JEOL JSM 6400 #9355834 zu verkaufen

JEOL JSM 6400 ist ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für fortschrittliche Bildgebung mit überlegener Auflösung und Erkennung subtiler Merkmale entwickelt wurde. Das Instrument bietet gleiche Leistung für eine Vielzahl von analytischen Aufgaben, einschließlich Fehleranalyse, Materialanalyse, elektronische Geräteprüfung und Bildgebung von biologischen Proben. JSM 6400 läuft von 200-400 Volt Gleichstrom (DC) Hochvakuum-Elektronenkanone, bietet eine hohe räumliche Auflösung von weniger als 10nm bei allen Vergrößerungen und zeichnet feine Details mit einer maximalen Vergrößerung von 250,000X. Das Mikroskop ist mit einem digitalen Bildgebungsprozessor (DIP) ausgestattet, um Bilder schnell in gleicher Auflösung zu erfassen und zu speichern. Die manuell verriegelte Pistole Neigung bietet eine hohe Flexibilität, ermöglicht eine schnelle Einstellung der Elektronenkanone und Probe Startwinkel für eine optimale Bildgebung. JEOL JSM 6400 verfügt über ein energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS), das sich für die Analyse elementarer und chemischer Zusammensetzungen mit zerstörungsfreien Methoden eignet. Dieses Tool erhöht die Genauigkeit und Empfindlichkeit in der Analyse, so dass das Instrument Spurenelemente oder Zusammensetzung genau identifizieren kann. Darüber hinaus ist das SEM mit einem In-Lens-Sekundärelektron (ISE) -Detektor ausgestattet, der zur Detektion, Analyse und Quantifizierung von Oberflächenmerkmalen verwendet wird. Darüber hinaus bietet JSM 6400 umfassende, ausgefeilte Steuerungsfunktionen für Scantechniken. Dies beinhaltet die Möglichkeit, Scanparameter wie Spotgröße, Schrittweite, Zeilendichte und Beschleunigungsspannung beim automatisierten Scannen anzupassen. Es bietet auch Mikroanalyse-Funktionen wie automatisierte Flächenmapping, Spektralmapping, z-Slice, Long-Line und 2D/3D-Analyse. Insgesamt bietet JEOL JSM 6400 eine überlegene Auflösung, maximale Flexibilität und erweiterte Analysefunktionen. Dieses Instrument profitiert von einer Vielzahl von Branchen, von der Fehleranalyse bis zur Materialwissenschaft, indem es außergewöhnliche bildgebende Ergebnisse liefert.