Gebraucht JEOL JSM 6400 #9382242 zu verkaufen

JEOL JSM 6400 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM). Das Mikroskop ist mit einem bildgebenden System ausgestattet, das sekundäre und rückgestreute Elektronen sowie optional reflektierte Elektronen kombiniert, was zu einer Reihe von analytischen Informationen von einer Probenoberfläche führt. Dieses System ist effektiv für die Abbildung von Oberflächentopographie, Form, Zusammensetzung, Kontamination und anderen Oberflächenmerkmalen. JSM 6400 bietet eine Reihe von Auflösungen bis zu 0,02 nm. Diese hervorragende Auflösung liefert feine topographische Informationen und ermöglicht die Abbildung von nanoskaligen Objektmerkmalen wie Nanopartikeln oder atomaren Strukturen. Darüber hinaus bietet JEOL JSM 6400 ein hochmodernes energiedispersives Spektrometer (EDS) für die Elementaranalyse. Durch die Kombination der Informationen aus den hochauflösenden Bildern mit der Energieelementanalyse können Anwender nicht nur die Größe von Partikeln oder Merkmalen, sondern auch die Zusammensetzung identifizieren. JSM 6400 ist mit einer hochstabilen Stromversorgung und hochpräziser Stufensteuerung ausgestattet. Dies sorgt für genaue und wiederholbare Einstellungen sowie ein äußerst zuverlässiges Scannen. Der Hochvakuumkondensator, die Probenkammer und die Objektivlinse tragen zu einer erhöhten optischen und Feldtiefe bei und bieten schärfere Bilder und einen verbesserten Kontrast auch bei kleinen Funktionen. JEOL JSM 6400 ist auch mit einem Energy-Filtering Transmission Electron Microscope (EFTEM) ausgestattet, das Elektronen ausfiltert, die aufgrund mehrerer Streuereignisse abgebaut wurden, was ein höheres Kontrastbild ermöglicht. Es verfügt auch über eine Reihe von Detektoren, die verschiedene Arten von Bildern und Erkennungsfunktionen bieten. Zu diesen Detektoren gehören Sekundärelektronendetektoren, Rückstreuelektronendetektoren, reflektierte Elektronendetektoren, energiedispersive Spektrometer und analoge Leistungsdetektoren. JSM 6400 verfügt auch über eine Vielzahl von automatisierten Operationen, wie Beispielausrichtung und Fokus, Rasterzuordnung und Bildsteuerung. Es hat eine große Kammer und ist mit einer breiten Palette von Probenhaltern kompatibel, die es für eine breite Palette von Materialien gut geeignet machen. Diese vielseitigen Werkzeuge machen JEOL JSM 6400 zu einer unschätzbaren Ressource für Forschung in der Oberflächenwissenschaft, Nanotechnologie und Materialanalyse.