Gebraucht JEOL JSM 6400F #136301 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F
ID: 136301
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL JSM 6400F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Forschungs- und Fertigungsanwendungen verwendet wird. Es bietet eine ausgezeichnete Auflösung, verfügt über ein beamoptisches System mit einem Column Focus Alignment System (CFAS) und ist in der Lage, ultrahochauflösende Beispielbilder zu erzeugen. JEOL JSM 6400 F ist mit Sekundärelektron (SE), Rückstreuelektron (BSE) und einziehbaren Röntgenanalysefähigkeiten ausgestattet. Es ist in der Lage, im Umgebungs-SEM-Modus (ESEM) und im Vakuum-Modus bei einem Bereich des Arbeitsdrucks zu arbeiten. Der Zusatz eines automatisierten Stufenreglers ermöglicht eine automatisierte Ausrichtung, grobe und feine Probenpositionierung. Die Elektronenquelle erzeugt einen 4,5 kV, 1,5 pA Strahl mit einem Ablenkbereich von 10,2 cm und einer Punktgröße von weniger als 5 μ m. Es verfügt über ein Spaltenfokus-Ausrichtungssystem (Column Focus Alignment System, CFAS) zur Bereitstellung von Bildgebung mit hohem Kontrast. Die Feldemissionskanone (FEG) und die Energiedispersive Spektroskopie (EDS) sorgen für optimale Leistung. Die Probenkammer ist mit Bühneneinsätzen ausgestattet, um das Scannen kleiner Flächenproben zu erleichtern. Das Gerät hat eine Bildauflösung von 0,9 nm und einen Kontrast der Kerngröße, wodurch die Analyse von Merkmalen auf einer breiten Palette von Materialien bis hin zur atomaren Auflösung ermöglicht wird. Es kann auch verwendet werden, um 3D-Proben zu produzieren. JSM 6400F ist ein hochgradig anpassbares Instrument und Werkzeuge wie ein Vorauswahlschema, Bildverschiebungskorrektur und ein automatisiertes Fokus-Beispiel stehen als optionale Funktionen zur Verfügung. Das Gerät ist auch in der Lage, gestapelte Bildanalyse und Digitalkamera Betrieb. Es verfügt über einen großen Bildschirm mit einem 12,1-Zoll-Farb-Touch-Panel, das die Datenbedienung und Anzeigefunktionen perfektioniert. Neben seinen hervorragenden Bildgebungsfunktionen bietet JSM 6400 F umfassende Dokumentations- und Datenanalysefunktionen. Der gesamte Bildaufnahme- und Analyseprozess wird automatisiert, mit einem dedizierten Softwarepaket, das es Anwendern ermöglicht, verschiedene Bildverarbeitungs- und Analysetools zu nutzen. Mit dem ProSpec Bildaufnahme- und Analysepaket können Benutzer Beispielbilder visualisieren, messen und vergleichen.
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