Gebraucht JEOL JSM 6400F #293590368 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist ein feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM). Es ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die Materialforschung und -analyse, das für die Betrachtung von Merkmalen auf dem Nanometer- bis Mikrometermaßstab verwendet wird. FE-SEM liefert der Probe eine extrem hohe Intensität von Elektronen, was sie besonders für die Betrachtung von niedrigen elektronenabsorbierenden Materialien, wie bestimmten Halbleitern, geeignet macht. JEOL JSM 6400 F verwendet eine Feldemissionskanone (FEG), um seine hochauflösende Bildgebung zu erreichen, die im Vergleich zu herkömmlichen SEMs zu Bildern höherer Auflösung führt. Die FEG bietet auch eine niedrigere Beschleunigungsspannung im Vergleich zu anderen Geräten, so dass es ideal für die Abbildung von fragilen Proben. Das 6400F bietet darüber hinaus eine Reihe von Analysefunktionen, die es Anwendern ermöglichen, Elementaranalysen und Zustandsmapping durchzuführen. Es verwendet einen ultrahochauflösenden energiedispersiven Röntgen- (EDX) Detektor, der Elemente mit einer Auflösung bis Beryllium (Be) detektieren kann. Dadurch kann das Mikroskop JSM 6400F das Vorhandensein von Verunreinigungen und anderen chemischen Zuständen in einer Probe nachweisen. Zusätzlich kann der elektronenstrahlinduzierte Stromdetektor (EBIC) des Mikroskops zur Detektion von Minderheitenträgern innerhalb einer Probe verwendet werden. Dies macht es nützlich für die Verfolgung von p-n-Übergängen und anderen Sub-Mikron-Funktionen, wie elektrische Wege und Pfade. Die 6400F bietet auch andere Funktionen, wie eine kleine Probenstufe und eine breite Palette von konventionellen und niedrigen Vakuum-Modi. Dadurch wird sichergestellt, dass es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist, einschließlich Transmission, Reflexion und Backscatter-Bildgebung. JSM 6400 F ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Mikroskop für materialwissenschaftliche Anwendungen. Es bietet die höchste Auflösung jedes SEM auf dem Markt und eine Reihe fortschrittlicher Analysefunktionen. Ideal für die Abbildung von Material mit geringer Absorption und Merkmalserkennung, ist die 6400F sicher, die Anforderungen jedes materialwissenschaftlichen Forschungsprojekts zu erfüllen.