Gebraucht JEOL JSM 6400F #293595853 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F Rasterelektronenmikroskop ist ein hochmodernes Instrument zur Beobachtung und Analyse einer Vielzahl von Proben. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder von biologischen, industriellen und anderen Materialien zu erzeugen. Das Gerät ist mit einem Hochgeschwindigkeits-Motorscan, einer speziellen Hochvakuumausrüstung, einem digitalen Bildverarbeitungssystem und einer interaktiven Benutzeroberfläche ausgestattet. JEOL JSM 6400 F ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle ausgestattet, die thermische Elektronenemission von einem erhitzten Wolframfaden verwendet. Diese Elektronenquelle erzeugt eine feinfokussierte Sonde mit sehr hoher Helligkeit, die zur Erzeugung von Mikrographen im Rasterelektronenmikroskop verwendet wird. Die Pistole ist in der Lage, einen Bereich von Vergrößerungen von 5 bis 150 kV, und kann für hochauflösende Bildgebung mit einer Auflösung von bis zu 0,3 nm verwendet werden. JSM 6400F verfügt auch über einen Hochgeschwindigkeits-Motorscan, der es ermöglicht, Bilder mit konsistenter Auflösung schnell zu erfassen. Die Motorscan-Technologie ermöglicht ein hochgenaues automatisiertes Scannen über die Probenoberfläche mit Bildaufnahmezeiten von bis zu 0,5 Millisekunden. Um die höchstauflösenden Bilder zu gewährleisten, ist das Instrument mit einer speziellen Hochvakuumeinheit ausgestattet. Diese Maschine erzeugt eine Hochvakuum-Umgebung, in der die Elektronen, mit denen die Bilder der Probe erzeugt werden, keine Kollisionen mit Luftmolekülen erleiden. Um weiterhin eine hohe Bildqualität zu gewährleisten, verfügt die JSM 6400 F auch über eine thermionische Emitterbaugruppe mit einer räumlichen Auflösung von weniger als 1 mm. Zusätzlich umfasst das Instrument ein digitales Bildverarbeitungswerkzeug. Dieses Asset umfasst einen Computer und einen Monitor mit einer interaktiven Benutzeroberfläche. Diese Schnittstelle ermöglicht es Benutzern, die Größe und Vergrößerung der Bilder zu ändern, sowie die Helligkeit und den Kontrast während der Bildaufnahme anzupassen. Zusammenfassend ist JEOL JSM 6400F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das mit einer Feldemissionskanone, einem Hochgeschwindigkeits-Motorscan, einem speziellen Hochvakuum-Modell, einer thermionischen Emitteranordnung und einer digitalen Bildverarbeitungseinrichtung mit interaktiver Benutzeroberfläche ausgestattet ist. Dieses anspruchsvolle Instrument ist in der Lage, scharfe, hochauflösende Bilder mit Geschwindigkeiten zu erzeugen, mit denen Benutzer dynamische Ereignisse beobachten können.