Gebraucht JEOL JSM 6400F #9065264 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist ein fortgeschrittenes analytisches und bildgebendes Rasterelektronenmikroskop (SEM). JEOL JSM 6400 F bietet ultrahochauflösende Bilder zur detaillierten Untersuchung einer Vielzahl von Proben. Es verfügt über ein ultraweites Sichtfeld inklusive einer großen Probenkammer und ist damit ideal für die Forschung in den Bereichen Biologie, Medizin, Materialwissenschaften und Halbleiterindustrie. Es ist mit einer Hochleistungs-Elektronensäule, fortschrittlichem Elektronendetektor und Flexibilität ausgestattet, die es Benutzern ermöglicht, auf eine Reihe spezialisierter Techniken zuzugreifen, einschließlich elementarer Kartierung, 3D-reconstruction und biologischer Bildgebungsfähigkeiten. Die Säule von JSM 6400F besteht aus einer ultrahochauflösenden Elektronenoptik (UHR). Diese Technologie wurde entwickelt, um Aberrationen zu minimieren und ungehindertes Sichtfeld zu maximieren. Es ermöglicht Benutzern, Bilder mit höherer Auflösung als herkömmliche SEM-Instrumente zu erzielen. Die integrierte Niederspannungsfähigkeit von JSM 6400 F gewährleistet eine stabile Abbildung mit niedrigeren Beschleunigungsspannungen (< 5kV) für empfindliche organische Proben. JEOL JSM 6400F ist auch mit einem rückgestreuten Elektronendetektor (BSE) ausgestattet, der ein Videokontrastbild mit direkten Oberflächeninformationen liefert. Es verbessert signifikant das Signal-Rausch-Verhältnis und macht Probenalter quantitativ über eine breite Palette von Proben. Das integrierte Low-Vakuum-System sorgt für Probenstabilität durch Minimierung von Verschmutzung und Geräuschreduzierung im Langzeitbetrieb, vom Ultrahochvakuum (UHV) bis zum Hochvakuum (HV). In Bezug auf Flexibilität ist JEOL JSM 6400 F in der Lage, auf eine Reihe spezialisierter Analyse- und Bildgebungstechniken wie 3D-reconstruction, biologische Bildgebung, spektrale Bildgebung und Elementarkartierung zuzugreifen, wodurch es für zahlreiche Arten von Materialcharakterisierungsanwendungen geeignet ist. Darüber hinaus ermöglicht das mitgelieferte automatisierte System es Benutzern, hochauflösende Bilder schnell und bequem zu erfassen. Die Scanphase von JSM 6400F kann über eine intuitive Softwareschnittstelle ferngesteuert werden, so dass Benutzer die Größe der analysierten Bereiche steuern und ein breiteres Sichtfeld erfassen können. Zusammenfassend ist JSM 6400 F ein vielseitiges und leistungsstarkes SEM für fortgeschrittene Bildgebungs- und Analysetechniken. Die weiträumigen Gesichtsfelder, die fortschrittliche Elektronensäule und die Option mit niedriger Beschleunigungsspannung machen es für Anwendungen in den Materialwissenschaften, der Halbleiterindustrie und der biologischen und medizinischen Forschung geeignet. Darüber hinaus ist es durch seine Flexibilität und sein hochautomatisiertes System ein zeitsparendes und effizientes Werkzeug für detaillierte Material- und biologische Analysen.