Gebraucht JEOL JSM 6400F #9080576 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist ein Rasterelektronenmikroskop (Scanning Electron Microscope, SEM), das in der Lage ist, eine unglaublich hochauflösende Abbildung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen bei sehr niedrigen Beschleunigungsspannungen bereitzustellen. Seine Eigenschaften machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für viele Anwendungen, einschließlich Materialcharakterisierung, Fehleranalyse und Bildgebung von Geräten und Nanostrukturen. JEOL JSM 6400 F hat ein einzigartiges und ergonomisches Design, das Benutzern Zugang zu drei verschiedenen Betriebsmodi ermöglicht. Diese Modi umfassen Niederspannungsmodus, der die Abbildung von nichtleitenden Materialien oder Halbleiterbauelementen ermöglicht, Hochspannungsmodus, der ideal für die Betrachtung von dickeren, leitfähigen Proben wie metallischen Materialien und Polymeren ist, und ein Fokus- und Analysemodus, der eine Vergrößerung von bis zu 20.000 x mit einer Auflösung von 0,7 Nanometern ermöglicht. JSM 6400F ist auch mit einer robusten Auswahl an zusätzlichen Funktionen ausgestattet. Dazu gehören ein ultrahochauflösender optischer Detektor, ein automatisierter Probenlader, eine automatisierte Strahlausrichtung, eine eingebaute Feldemissionsquelle, ein integriertes Niedervakuumsystem und ein Autofokussystem. JSM 6400 F bietet auch verschiedene Analysefunktionen für fortgeschrittenere Anwendungen. Dazu gehören Elektronensondenmikroanalyse (EPMA), Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDXS) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Die fortschrittlichen Funktionen von JEOL JSM 6400F machen es zu einer idealen Wahl für viele verschiedene Anwendungen. Sein benutzerfreundliches und effizientes Design ermöglicht es Benutzern, Proben schnell zu laden, den Strahl für optimale Ergebnisse anzupassen und eine Vielzahl verschiedener Bilder in einer Sitzung zu erhalten.