Gebraucht JEOL JSM 6400F #9089825 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist eine Hochleistungsfeldemission, Elektronmikroskop (FE-SEM) Scannend, der entworfen ist, um bahnbrechende Bildaufbereitung und analytische Fähigkeiten sowohl für die Forschung als auch für Industrieanwendungen zu bieten. Sein hocheffizientes Design bietet erstklassige Leistung, so dass es eine deutlich höhere Auflösung, höhere Vergrößerung, geringeres Rauschen und schnellere Bildgebungsgeschwindigkeiten als herkömmliche SEMs erreicht. JEOL JSM 6400 F verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG), die eine überlegene Auflösung und Bildauflösung im Vergleich zu Standard-Schottky oder Wolfram-Feld Emissionsquellen bietet. Das FEG ist in der Lage, einen Bereich von Primärelektronenenergien zwischen 0,2 und 30 KeV zu erzeugen. Dies ermöglicht eine größere Bandbreite an bildgebenden Funktionen und verbesserte Fähigkeit, subtile Merkmale von Proben zu erkennen und zu identifizieren. Das 6400F verfügt außerdem über eine große Schärfentiefe und eine schnelle Scangeschwindigkeit, die eine genaue, hochauflösende Bildgebung und Datenerfassung auch bei der Änderung des Fokus von oberflächennahen auf Suboberflächenmerkmale ermöglicht. JSM 6400F ist mit einem hochleistungsfähigen und räumlich einheitlichen Elektronenlinsensystem ausgestattet, das Linsen für In-Linsen und Post-Linsen-Kondensatoren verwendet, die für eine optimale Aberrationskorrektur und Auflösung optimiert sind. Darüber hinaus ist es mit der neuesten Bildvorverarbeitungstechnologie ausgestattet, um die beste verfügbare Bildgebung zu bieten. JSM 6400 F verfügt auch über eine Vielzahl von analytischen und bildgebenden Funktionen, einschließlich Energy Dispersive Spectroscopy (EDS), Wavelength Dispersive Spectroscopy (WDS), Electron Backscatter Diffraction (EBSD), Cathodoluminescence (Con-Beam-Beam) und Dam-fokussiert Diese hochmodernen Fähigkeiten machen JEOL JSM 6400F ein unschätzbares Werkzeug für Analyse- und Bildgebungstechniken. JEOL JSM 6400 F bietet auch eine breite Palette von Software-Funktionen, um einen effizienten und effektiven Betrieb zu unterstützen. Dazu gehören ein automatisiertes Probenstufensteuerungssystem, fortschrittliche Tools zur Verwaltung von Probenscans und eine intuitive Benutzeroberfläche für eine effiziente Bedienung. JSM 6400F ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Instrument für Bildgebung und Mikroanalyse, mit einer umfangreichen Palette von Fähigkeiten und Funktionen, die auf die Anforderungen der heutigen Forschung und industriellen Nanotechnologie-Anwendungen zugeschnitten sind.