Gebraucht JEOL JSM 6400F #9102730 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist ein Field-Emission Scanning Electron Microscope (FESEM), das fortschrittliche Funktionen und kleine Größe kombiniert, um Hochleistungs-Bildgebungs-, Analyse- und Messwerkzeuge für eine breite Palette von Materialforschungsanwendungen bereitzustellen. JEOL JSM 6400 F verwendet eine einzigartige Feldemissionskanone (FEG), die Elektronen mit einer Strahlfleckgröße von bis zu einem Nanometer erzeugt. Dies wird mit einem einzigartigen Triple Gun Design und fortschrittlichen Technologien kombiniert, um Probenaufladung und Oberflächeneffekte zu eliminieren. Der monolithische Workflow umfasst zwei Detektoren für die simultane Bildgebung, die eine hochauflösende Bildgebung, chemische Analyse und Oberflächentopographie mit beispielloser Genauigkeit ermöglichen. Die Probenkammer bietet auch Vakuumniveaus so niedrig wie 1x10-6 Pa, so dass es ideal für Studien von hochauflösender Oberfläche und optischen Phänomenen. JSM 6400F bietet wichtige Vorteile in der Bildgebung, Analyse und Messleistung. Die hochauflösende Elektronenoptik und die Pixelauflösung von bis zu 8 nm ermöglichen die Abbildung winziger Merkmale mit unschlagbarer Klarheit. Rasterschneckenmikroskopie (SAM) und Röntgenenergiedispersive Spektrometrie (EDS) ermöglichen die chemische Analyse von Proben mit atomarer Genauigkeit. Fortschrittliche Technologien wie die Wellenlängen-dispersive Spektroskopie (WDS) und die Elektronen-Rückstreuung (EBSD) ermöglichen die 3D-chemische und kristallographische Bildgebung in Nanobereichen. Darüber hinaus sorgt die Niedervakuumumgebung auch dafür, dass während des bildgebenden Prozesses keine Veränderungen auftreten, so dass eine zuverlässige Bildgebung über Langzeitexperimente möglich ist. JSM 6400 F verfügt über eine benutzerfreundliche, intuitive Softwareschnittstelle, die eine effiziente Kontrolle über alle Betriebsparameter und Systemeinstellungen ermöglicht. Diese Schnittstelle ermöglicht auch die Echtzeit-Datenerfassung und -integration mit anderen Analysetools. Die automatisierten Probenvorbereitungstools reduzieren den Zeitaufwand für die Probenvorbereitung, während die automatisierten Analysetools die Analyse von Mikroskopiedaten mit wenigen Mausklicks ermöglichen. JEOL JSM 6400F ist eine ausgezeichnete Wahl für Forschung und Entwicklung in den Bereichen Nanotechnologie, Materialwissenschaft, Halbleiterphysik und Halbleiterbauelemente.