Gebraucht JEOL JSM 6400F #9119070 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das Bilder mit einer Auflösung von bis zu 0,1 Nanometern erzeugen kann. Es nutzt eine einzigartige Kombination aus 3D-Scanning und energiedispersiver Röntgenspektroskopie, um unglaublich detaillierte Bilder der Oberfläche und Unterfläche von Materialien zu erzeugen. Es ist mit mehreren automatisierten Funktionen ausgestattet, einschließlich einer Kippstufe, die eine dreidimensionale Bildgebung ermöglicht, einem vollautomatischen Stigmator und einem Hochstrom-Elektronenemitter- und Verzögerungs-Aberrationskorrektor. Dadurch eignet sich das Instrument besonders gut für die atomare Auflösungs-Bildgebung, so dass hochdetaillierte Strukturen wie einzelne Atome und Moleküle abgebildet werden können. Das 6400F verfügt auch über ein großes, 4K-Pixel-Bildaufnahmesystem, das die höchstmögliche Auflösung ermöglicht. Das Mikroskop verwendet ein automatisiertes Vakuumsystem, das während des Betriebs ein konsistentes Vakuumniveau gewährleistet, und ein rauscharmes Bildgebungssignal in Kombination mit einem hochempfindlichen digitalen Signalverarbeitungsalgorithmus, um eine exakte Bildklarheit zu gewährleisten. Dies ermöglicht die Erfassung empfindlicher Musterbilder ohne manuellen Eingriff. JEOL JSM 6400 F ist ein unglaublich leistungsstarkes Instrument, das auf eine Reihe verschiedener Forschungsanwendungen angewendet werden kann. Es ist aufgrund seiner hervorragenden bildgebenden Fähigkeiten ein unschätzbares Werkzeug für die biologische und materialwissenschaftliche Forschung. Es kann verwendet werden, um einzelne Zellkomponenten, wie Proteine und Viruspartikel, sowie Mikrostrukturen auf der Oberfläche von fast jedem Material abzubilden. Darüber hinaus kann das Mikroskop in den Bereichen Nanotechnologie und Elektronik eingesetzt werden, um die Leiterplatte und das Design integrierter Schaltungen zu verbessern. Zusammenfassend ist JSM 6400F ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop mit einer Vielzahl von Funktionen, die präzise Bilder mit einer Auflösung von bis zu 0,1 Nanometern gewährleisten sollen. Es ist ein unschätzbares Werkzeug für die biologische und Materialforschung und kann verwendet werden, um Einblick in komplexe strukturelle Merkmale von fast jedem Material zu erhalten. Mit seinen automatisierten Funktionen, erweiterten Bildgebungsfunktionen und einem komplizierten digitalen Signalverarbeitungsalgorithmus ist JSM 6400 F ein leistungsstarkes und vielseitiges Instrument, das auf eine Vielzahl von Forschungsanwendungen angewendet werden kann.