Gebraucht JEOL JSM 6400F #9210557 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F
ID: 9210557
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6400F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das aufgrund seiner hocheffizienten schottky Feldemitterpistole ideal für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben geeignet ist. Seine hohe Auflösung und große Tiefenschärfefunktionen machen es in der Lage, sowohl Oberflächenstrukturen als auch interne Merkmale von Proben aufzulösen. Es verfügt über einen hochauflösenden Flächendetektor, der in der Lage ist, Proben bis zu einem niedrigen kV-Bereich abzubilden. JEOL JSM 6400 F verwendet einen zweiachsigen Neigungshalter, um Proben in verschiedenen Winkeln abzubilden, um 3D-surface Ansichten von Proben zu erzeugen, sowie Ansichten aus der vertikalen Richtung und sogar horizontalen Richtungen zu erhalten. Eines der unglaublichen Merkmale von JSM 6400F ist die Sensorleistung seines Signalkanals. Dieser spezifische Signalkanal wird durch ein X-Y-Abbildungssystem und eine erweiterte Signalschaltung gesichert. Diese Eigenschaften ermöglichen eine Niederspannungsbildgebung und eine schnelle Bildanzeige, die sowohl für die Beobachtung als auch für die Analyse biologischer und organischer Proben geeignet sind. Dieses SEM ist auch mit einer breiten Palette von Vergrößerungsmöglichkeiten bis maximal x400.000 ausgestattet. Darüber hinaus verfügt dieses SEM über ein robustes Umgebungssystem, das einen konstanten Mikroskop-Betrachtungskammerdruck von 3,2 bis 5 Torr aufrechterhalten kann, der zur Verhinderung elektronenstrahlinduzierter Probenladungsakkumulation erforderlich ist. JSM 6400 F ist auch mit einer computergesteuerten automatischen Stufe ausgestattet, die in der Lage ist, die Probenstufe nach der Abbildung automatisch in verschiedene Positionen für erhöhte Geschwindigkeit und Genauigkeit zu bewegen. Dieses SEM ist auch mit einer Lichtfeld-Optik-Steuerfunktion ausgestattet, die die Helligkeit und den Kontrast eines SEM-Bildes nach der Bildaufnahme genau einstellen kann. Diese Funktion ermöglicht die Visualisierung und Analyse extrem schwacher Signale, was für die Visualisierung komplexer biologischer Strukturen wichtig ist, die ansonsten schwer abbildbar sind. Schließlich verfügt JEOL JSM 6400F auch über verschiedene Softwarepakete zur Datenerfassung und -analyse, die benutzerfreundlich und intuitiv sind und eine große Benutzerfreundlichkeit ermöglichen. Während die Vergrößerungsfunktionen von JEOL JSM 6400 F begrenzt sind, zählt die Vielseitigkeit und Leistungsfähigkeit dieses SEMs fest zu den verfügbaren SEMs mit höherem Niveau. Es ist ein unglaublich leistungsfähiges Werkzeug für die Bildgebung und Analyse einer breiten Palette von Proben aufgrund seiner verbesserten Auflösung, Neigungshalter und Computer gesteuerte Funktionen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor