Gebraucht JEOL JSM 6400F #9232673 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Bildgebung sowie eine Vielzahl von analytischen Funktionen bietet. Es verwendet Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und reflektierte Elektronen, um lebendige, detaillierte Bilder mit tiefer Schärfentiefe zu erzeugen. Das Instrument ist mit einer Vielzahl von Probenhaltern und -stufen ausgestattet, um eine Vielzahl von Probengrößen und -formen unterzubringen. Mit einer eingebauten Ionenpistole und Elektronenkanone ist JEOL JSM 6400 F in der Lage, Proben mit hoher Oberflächenqualität zu erzeugen, die eine genaue und präzise Bildgebung ermöglichen. Die Mikroskope verfügen über eine Feldemissionskaltkathode (FEG), die in der Lage ist, hohen Elektronenstrom für erhöhte Helligkeit und Bildgebungsgeschwindigkeit zu erzeugen. Darüber hinaus ermöglicht die Elite FEG mit JEOL patentierter Ceta-Technologie eine genauere Messung des Strahlstroms, erhöhte Helligkeit, längere Lebensdauer und engere Elektronenstrahlen. Diese Miniaturisierung von JEOL Elites FEG ermöglicht den Betrieb bei niedrigeren Strömen und eine präzisere Steuerung der Probenanalyse. JSM 6400F ist mit einer intuitiven Benutzeroberfläche und einer einfach zu konfigurierenden Software aufgebaut, die es dem Benutzer ermöglicht, die Instrumenteneinstellungen schnell anzupassen. Darüber hinaus verfügt dieses Mikroskop über eine automatisierte Bühne und austauschbare Linsen, um genaue und wiederholbare Ergebnisse zu gewährleisten. In Bezug auf analytische Fähigkeiten ist JSM 6400 F in der Lage, eine Vielzahl von elementaren Kartierungen, chemische Analyse und Energiedispersive Spektroskopie (EDS). Seine EDS-Fähigkeit ist hochauflösend und präzise, mit der Fähigkeit, bis zu den Elementen 5 mit 1-3 keV Auflösung zu messen. Darüber hinaus kann das Mikroskop für die 3D-Bildgebung mit seinen großen Tiefenschärfe- und fokussierten Ionenstrahl-Fähigkeiten verwendet werden. Insgesamt ist JEOL JSM 6400F ein leistungsstarkes, vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, detaillierte Bilder und hochpräzise Analysen zu erzeugen. Mit seinem breiten Spektrum an Einsatzmöglichkeiten und anspruchsvollen Designs ist dieses Instrument ideal für eine Vielzahl von Anwendungen.