Gebraucht JEOL JSM 6400F #9236172 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Bildgebung und Analyse von Proben bei hohen Auflösungen verwendet wird. Seine einzigartigen Eigenschaften und Fähigkeiten machen es für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen geeignet, einschließlich Materialwissenschaft, Mikroherstellung, Nanotechnologie, Medizin und forensische Wissenschaft. JEOL JSM 6400 F verwendet eine hochauflösende zeolithbeschichtete Feldemissionskanone (FEG) und verwendet eine Beschleunigungsspannung von 0,15 kV bis 30 kV. Mit diesem Dynamikbereich können Forscher Proben charakterisieren, die von nichtleitenden Materialien bis zu hochleitenden Proben reichen. Das Mikroskop kann entweder im SE- oder BSE-Bildgebungsmodus laufen, und die mikroprozessorgesteuerte Probennivellierungsausrüstung sorgt für eine präzise Bildgebung. JSM 6400F verfügt auch über ein einzigartiges digitales Bildverarbeitungssystem, das zur Optimierung der bildgebenden Bedingungen und zur Verbesserung des Kontrastes verwendet werden kann. Es gibt auch eine Digitalkamera mit drei RGB-LED-Hintergrundbeleuchtung, die es Benutzern ermöglicht, Bilder mit einem Farbbereich von bis zu 24,5 Millionen Farben zu erfassen. Das Mikroskop nutzt auch eine Stufenscanner-Einheit, die von einer Autofokus-Maschine angetrieben wird und ultra-kleine Probengrößen von bis zu 30 nm ermöglicht. Die fortschrittliche Elektronenoptik des JSM 6400 F ermöglicht höhere Auflösungen als bei optischen Mikroskopen. Die Auflösung kann durch die optionalen In-Linsen-Detektoren weiter verbessert werden. Zusätzlich ist eine zeitaufgelöste Spektralanalyse mit den eingebauten zeitaufgelösten AELS und EDX Systemen möglich. Mit der integrierten Software können Anwender ihre Daten schnell analysieren und 3D-Rekonstruktionen erzeugen. JEOL JSM 6400F ist auch mit einem leistungsfähigen Softwarepaket ausgestattet, einschließlich Funktionen wie automatisierte Beispielnavigation und automatische Erfassung. Diese Funktionen machen es einfacher und schneller, Proben abzubilden und zu analysieren. Das Mikroskop ist auch mit einer breiten Palette von Zubehör und Geräten kompatibel, so dass der Anwender seine Fähigkeiten noch weiter ausbauen kann. Insgesamt ist JEOL JSM 6400 F ein fortschrittliches, hochleistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Auflösung und Kontrast bietet und es Forschern ermöglicht, eine Vielzahl von Materialien schnell und effizient abzubilden und zu analysieren.