Gebraucht JEOL JSM 6400F #9253741 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist ein hochpräzises Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Abbildung und Analyse der mikroskopischen Struktur und Zusammensetzung unterschiedlichster Materialien verwendet wird. Dieses Instrument ist in der Lage, Oberflächenmerkmale abzubilden und die Elementaranalyse mit Hilfe der energiedispersiven Röntgenspektrometrie (EDS) durchzuführen. JEOL JSM 6400 F bietet eine Reihe anspruchsvoller bildgebender Funktionen mit automatischem Fokus, einer Reihe von Vergrößerungen von 10X bis 50,000X und einer Auflösung von 1.0nm. Darüber hinaus verfügt das 6400F über eine neu entwickelte vibrationsarme Steuerung, die bei hoher Auflösung außergewöhnlich stabil ist. Dieses Gerät hat auch einen Signalerfassungsbereich von 0,1 bis 20.000 cps und kann mit zwei verschiedenen Elektronenspannungen von 0,5 bis 30kV arbeiten, wodurch es für eine breite Palette von Materialien und Oberflächen geeignet ist. Darüber hinaus reduziert der rauscharme digitale Vorverstärker das Bildrauschen signifikant, insbesondere bei der EDS-Analyse. Der rückgestreute Elektronendetektor hat auch eine schnelle 50-Sekunden-Antwort und kann durch Strahldrift Bilder ohne Artefakte aufnehmen. JSM 6400F ist mit einer Auto-Stig und Astigmator-Einheit ausgestattet, die die Bildverzerrungen in einem SEM minimiert. Dieses Gerät ermöglicht auch die einfache Navigation von Sichtfeldern für die Bildgebung und Analyse. Darüber hinaus stehen eine Vielzahl von Analyseoptionen zur Verfügung, darunter Linienscans, Mapping, E-Strahl-induzierte Ströme sowie Strahlrückstreuungs- und Schwellensimulationen. Schließlich verfügt JSM 6400 F auch über eine automatisierte Analysesoftware, die eine schnelle Datenanalyse und -berichterstattung ermöglicht. Insgesamt bietet JEOL JSM 6400F ein leistungsstarkes und präzises Rasterelektronenmikroskop für die Analyse und Abbildung unterschiedlichster Materialien.