Gebraucht JEOL JSM 6400F #9316404 zu verkaufen

JEOL JSM 6400F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für eine Vielzahl von Anwendungen. Das Instrument verfügt über eine große 200-mm-Stufe für Proben bis 6 kg und ein großes Sichtfeld von bis zu 300mm und bietet eine hervorragende Probenmanipulation und -registrierung. Zum Mikroskop gehört auch ein energiedispersives Spektrometer (EDS), das eine quantitative Analyse der Probe ermöglicht. Das EDS verfügt zudem über einen kontinuierlichen Scanmodus, mit dem der Bediener große Flächen schnell und genau analysieren kann. JEOL JSM 6400 F verwendet eine hochauflösende Wolframfeld Emission filamentlose Elektronenquelle, um die bestmögliche Bildauflösung und Bildstabilität zu erhalten. Die FEG-Quelle liefert eine hohe Helligkeit mit verbesserter Auflösung und Kontrast für alle Proben und bietet einen erweiterten Betriebsbereich für ultrahochauflösende Bildgebung. Zusätzlich emittiert die FEG-Quelle eine echte Niederwinkel-Beleuchtung, eine Eigenschaft, die die bildgebende Qualität und Kapazität des Instruments weiter verbessert. JSM 6400F verfügt über eine Vielzahl von Musterhaltern, die mit der Bühne des Instruments kompatibel sind und eine Reihe von Probengrößen und -formen für eine genaue und konsistente Probenplatzierung aufnehmen. Die Stufe bietet eine robuste mechanische Stabilität und ist mit einem automatischen Probenaustausch ausgestattet, der einen Probenaustausch ohne Vakuumbruch ermöglicht. Die automatisierte Austauschbarkeit ermöglicht auch einen vielseitigen Betrieb im Niedervakuummodus für ultimativen Probenschutz. JSM 6400 F schließt eine breite Reihe ein, Weisen einschließlich der niedrigen Stromspannung darzustellen, Elektronmikroskopie, sowohl mit inlens als auch mit Entdeckern im Boden für die optimale Beispielcharakterisierung scannend. Neben der Hellfeld- und Dunkelfeldbildgebung können Benutzer auch rückgestreute und sekundäre Elektronen aus demselben Probenfeld zur Erfassung aller drei Signalkomponenten aufzeichnen. Das Instrument ist auch mit digitalen Bildgebungs- und Automatisierungsfunktionen ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglichen, von jedem Ort aus auf seine Bilder zuzugreifen und sie zu analysieren. JEOL JSM 6400F verfügt über einen großen Probenaustauschbereich und schnelle Erfassungsgeschwindigkeiten, so dass es ideal für schnelle Probenscans ist, und sein modularer Aufbau vereinfacht die Wartung. Das Instrument ist zudem mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, mit der Benutzer Daten schnell aufarbeiten und interpretieren können. Die Benutzeroberfläche umfasst auch umfangreiche Sicherheitsfunktionen, die für einen sicheren Betrieb ausgelegt sind.