Gebraucht JEOL JSM 6401F #9283953 zu verkaufen

JEOL JSM 6401F Scanning Electron Microscope (SEM) hat eine Hochleistungssäule von 5,5 mm, die für eine feine Probenauflösung optimiert ist. Das fortschrittliche Design des Ausrichtungssystems ermöglicht eine schnelle und genaue Vergrößerungsanpassung, was zu einer ausgezeichneten Auflösung feiner Details führt. Der verwendete Stufenmotor ist glatt und präzise und ermöglicht eine genaue Positionierung der Proben. Der SE-Detektor passt den Detektor an den Ausgang der Elektronenkanone an und optimiert ihn, und der rückgestreute Elektronendetektor ermöglicht eine überlegene Kontrastabbildung. JSM 6401F bietet eine Vielzahl von Funktionen, darunter automatische Optimierung von Elektronensondenstrom und Beschleunigungsspannung, digitale Bildgebung und ein patentiertes Elektronenstrahl-Blanker-System für verbesserte Auflösung. Dies ermöglicht eine präzise Feinabstimmung des Elektronenstrahls, um Ladeeffekte zu minimieren und die Probenklarheit zu verbessern. Das Gerät enthält auch ein eingebautes Post-Foucault-Kippsystem, das 4 bis 8 Grad Neigungen in beide Richtungen zur Erzielung schräg abgewinkelter Bilder bereitstellt. JEOL JSM 6401F bietet auch eine Vielzahl von Abbildungsmodi, einschließlich Rückstreuelektronenbildgebung; differentieller Interferenzkontrast; Abtastelektronenmikroskopie; und sekundäre Elektronenbildgebung. Der sekundäre Elektronenbildmodus erzeugt hochauflösende Bilder der Probenoberfläche und eignet sich besonders zur Gewinnung von Informationen über Oberflächentopographie, Oberflächenstruktur, Oberflächenchemie und Oberflächenstruktur-Funktionsbeziehungen. Neben den bildgebenden Fähigkeiten können JSM- 6401F auch zur Analyse der Probenzusammensetzung verwendet werden. Sein energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS-Analyse) ist in der Lage, Elemente in einem breiten Spektrum von Konzentrationen zu detektieren. Die Einheit kann auch zur Elektronenstrahlstimulation (EBS) von Proben verwendet werden und die elektrischen, magnetischen, optischen und elektronischen Eigenschaften der Probe messen. Aus struktureller Sicht ist JEOL JSM 6401F eine All-in-One, kompakte Einheit, die sowohl leicht als auch einfach zu bedienen ist. Die Säule und der Detektor sind direkt in das Gerät integriert, und die Objektivlinse ist so konzipiert, dass sie sich mit minimalem Jitter bewegt und höchste Leistung und Genauigkeit bietet. Zusammenfassend ist JSM 6401F Scanning Electron Microscope ein fortschrittliches, sehr vielseitiges Instrument, das eine hervorragende Auflösung, eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analysefunktionen und ein robustes Strukturdesign bietet. Mit seinen beeindruckenden Eigenschaften und Zuverlässigkeit ist dieses SEM eine ausgezeichnete Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen.