Gebraucht JEOL JSM 6401F #9288544 zu verkaufen

JEOL JSM 6401F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochgenaue Bilder und Funktionen bereitstellt, um Anwendern in den Bereichen Materialwissenschaft, Biologie und Halbleitertechnik zu helfen. Dieses hochmoderne Instrument verfügt über einen großen Arbeitsweg, einen langen Stufenweg und eine außerordentlich hohe Auflösung von 0,4 nm bei einem Arbeitsabstand von 30 mm. Es erreicht diese Auflösung aufgrund seiner Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle, die eine elektronenfokussierte Linse verwendet, um einen extrem hellen und hochkonzentrierten Elektronenstrahl zu erzeugen. Diese hohe Elektronenstrahlhelligkeit verbessert den Bildkontrast, die Bildauflösung und sorgt für höchste Genauigkeit. JSM 6401F ermöglicht es Benutzern, Beobachtungen von 2D- und 3D-Funktionen durch verschiedene Modi, wie sekundäre Elektronenbildgebung, zuverlässige Lichtfeld-Bildgebung und Auto-in-Focus-Bildgebung. Darüber hinaus bietet HAADF (High-Angle Ringular Dark Field) eine stärkere Kristallstrukturanalyse als herkömmliche Hellfeldbildgebung. Durch den Einsatz von HAADF Imaging können Anwender feine Strukturen genau messen und quantifizieren. Der Sekundärelektronen-Transmissionsdetektor bietet verschiedene Optionen wie Multi-Stop, Helligkeit und Kontrast, Gamma, variable Crossover, Elektronenhintergrund und Bildpositionierung. Diese vielfältige Auswahl an Funktionen hilft, die minutengenauen Details fast jedes Insekten-, Mineral- oder anderen Objekts hervorzuheben. JEOL JSM 6401F ist aufgrund seiner vielseitigen Vergrößerungen und seiner vielfältigen Arbeitsabstände ideal für Anwendungen in der Routine- und High-End-Mikroskopie. Mit einer Vielzahl von Einstellungen für Elektronenkanonen kann das Instrument auch dazu verwendet werden, besonders schwer abbildbare Objekte wie mikroelektronische Komponenten, Polymere, Metalle und Oxide sowie Zellorganellen, lebende Zellen, Gewebeproben und andere zu beobachten. Kurz gesagt, JSM 6401F ist ein sehr vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit einer ausgeklügelten bildgebenden Technologie, die auf verschiedene Beobachtungen und Umgebungen angewendet werden kann. Es ist eine ausgezeichnete Wahl für alle, die fein detaillierte Bilder und genaue Messungen aufgrund seiner ausgezeichneten Eigenschaften benötigen, wie hohe Auflösung, hoher Kontrast und breites Anwendungsspektrum.