Gebraucht JEOL JSM 6460LA #9362208 zu verkaufen

JEOL JSM 6460LA ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung und Analyse. Es ist in der Lage, detaillierte Bilder und Analysedaten von Proben im Atom- und Nanoskala zu sammeln. Es ist mit einer Feldemissionskanone, einer hochauflösenden Stufe und einer Bildverarbeitungseinrichtung ausgestattet. Das System ist hocheffizient und zuverlässig und kann verwendet werden, um eine Vielzahl von Proben in Branchen von der Biochemie bis zur Werkstofftechnik zu untersuchen. JSM verwendet 6460LA eine Feldemissionskanone (FEG) -Quelle zur Erzeugung eines Elektronenstrahls. Diese Quelle ermöglicht es dem Instrument, sehr hochauflösende Bilder mit einem stark verbesserten Signal-Rausch-Verhältnis zu erzeugen. Diese FEG-Quelle erhöht die Auflösung des Instruments auf 1 nm und erhöht auch die Empfindlichkeit des Detektors. Der Detektor wurde entwickelt, um Sekundärelektronen zu sammeln, so dass das Instrument hochwertige Bilder erhalten kann. Das Mikroskop verfügt zudem über eine hochpräzise Stufe. Mit dieser Stufe kann die Probe bewegt werden, so dass sie präzise abgebildet werden kann. Die Stufe ist in der Lage, bis zu 10g Probengewicht und einen Scanbereich bis zu 130mm mal 130mm zu transportieren. Es verfügt auch über eine Weitwinkelfähigkeit, so dass die Probe aus verschiedenen Winkeln zur Analyse gescannt werden kann. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten verfügt JEOL JSM 6460LA auch über eine bildverarbeitende Einheit. Diese Maschine wurde entwickelt, um die Qualität der vom Instrument erhaltenen Bilder zu verbessern. Es ist in der Lage, eine automatische Verbesserung der Bilder durch Anpassung der Farbsättigung, Kontrast und Helligkeit durchzuführen. Das Werkzeug hat auch die Fähigkeit, automatisierte Messungen der Scanlinien durchzuführen. Dazu gehören Messungen wie Linienbreite, Querschnittsfläche und andere Abmessungen. Insgesamt ist JSM 6460LA ein extrem leistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop, das für detaillierte Bildgebung und Analyse konzipiert ist. Es ist in der Lage, sehr detaillierte Bilder und Analysedaten von Proben im Atom- und Nanoskala zu erzeugen. Es ist ein effizientes und zuverlässiges Gut und eignet sich für den Einsatz in einer Vielzahl von Industrien, um die atomaren und Nanostrukturen von Proben zu erforschen.