Gebraucht JEOL JSM 6460LV #293648403 zu verkaufen

JEOL JSM 6460LV Scanning Electron Microscope ist ein modernes Instrument für hochauflösende Bildgebung und Analyse. Es wird für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen von der Materialwissenschaft bis zur Halbleitertechnologie verwendet. JEOL JSM-6460LV verwendet die neueste Elektronendetektor-Technologie, um überlegene analytische Leistung mit minimalem Rauschen und hervorragender Auflösung zu bieten. Das Rasterelektronenmikroskop ist in der Lage, eine Schichtauflösung von bis zu 0,5 nm mit SE (sekundäre Elektronenbildgebung) und BSE (rückgestreute Elektronenbildgebung) bereitzustellen. JSM 6460LV verwendet ein modernes bildgebendes Gerät, bestehend aus einer Elektronenkanone, einer Kondensatorlinse, einer Objektivlinse, einem Bildverstärker und einem Betrachtungssystem. Mit der Elektronenkanone werden Elektronen erzeugt, die von der Kondensatorlinse fokussiert und auf die Probe gerichtet werden. Die Objektivlinse fokussiert dann die Sekundärelektronen und rückgestreuten Elektronen auf die Bildverstärkerröhre. Der Bildverstärker verstärkt dann und wandelt das Signal in ein sichtbares Bild auf der Betrachtungseinheit um. DieJSM 6460LV hat einen Arbeitsabstandsbereich von 2-23 mm und einen Vergrößerungsbereich von 8 -30.000x. Die Benutzeroberfläche lässt keine Wünsche offen, da sie mit einem 10,4 "Farbmonitor, einer dedizierten Steuereinheit und einem abnehmbaren Joystick ausgestattet ist. Darüber hinaus ist die Maschine mit einer Vielzahl von automatisierten Stufen zur motorisierten Manipulation der Probe innerhalb der SEM-Kammer kompatibel. DieJSM- 6460LV ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung, Analyse und Kartierung mit einer Vielzahl von Probenhaltern einschließlich flacher, dreidimensionaler und biologischer Träger. Mit einem energiedispersiven Röntgendetektor kann auch eine einfache elementare und chemische Analyse durchgeführt werden. Weitere Merkmale dieses robusten Tools sind eine integrierte Ethernet-Verbindung und ein Joyse EDS-Softwarepaket. Abschließend ist JSM-6460LV Rasterelektronenmikroskop ein fortschrittliches Hochleistungsinstrument, das eine hochauflösende Bildgebung, Analyse und Abbildung ermöglicht. Die benutzerfreundliche Oberfläche, der große Arbeitsabstandsbereich und das leistungsstarke Feature-Set machen es zu einem unschätzbaren Vorteil in jeder Forschungsumgebung.