Gebraucht JEOL JSM 6460LV #293762948 zu verkaufen

JEOL JSM 6460LV ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit Elektronenstrahltechnologie. Dies ist ein vielseitiges Mikroskop, das es dem Forscher ermöglicht, eine Vielzahl von Experimenten wie Bildgebung, Kristallographie und Atomsondenanalyse durchzuführen. Das Gerät verwendet eine Schottky-Feld emittierende Elektronenquelle (FEIS), die einen maximalen Strahlstrom von 2,0 nA und eine Beschleunigungsspannung von bis zu 150 kV erzeugen kann. Die Elektronenoptik von JEOL JSM-6460LV verwendet ein Mehrfachlinsensystem mit einer elektronenoptischen Spalte, die Elektronen abbilden, detektieren und analysieren kann. Die einzigartige Elektronenoptik umfasst ein In-Linsen-Detektorsystem, das aus einem Sekundärelektronendetektor, einem Rückstreuelektronendetektor, einem benetzten Kristalldetektor, einem Feldemissionsdetektor und einem Röntgendetektor besteht. Durch den Einsatz der verschiedenen Detektoren ist der Forscher in der Lage, eine Reihe verschiedener Bilder, Signale und Spektren zu erhalten. JSM 6460LV verfügt auch über eine Vielzahl von Probenstufen, die ausgezeichnete Probenstabilität während unter Mikroskop bieten. Mit der Verwendung eines umgekehrten Probenhalters ist JSM-6460LV in der Lage, alle Niedertemperaturversuche durchzuführen, die eine Kühlung oder Erwärmung erfordern. JEOL JSM 6460LV ist mit einer Vielzahl von Funktionen und Instrumentensteuerungssoftware ausgestattet, die es dem Forscher ermöglicht, eine breite Palette von experimentellen Parametern genau zu steuern und Bilder von hoher Qualität zu erhalten. Die Software beinhaltet Elektronenstromsteuerung, Bildverarbeitung, Bildanalyse und Spektrometrieverarbeitung. JEOL JSM-6460LV bietet auch eine Reihe innovativer Probenvorbereitungsfunktionen wie Argon-Ionen-Sputtern, Argon-Cluster-Sputterabscheidung und Kohlenstoffsputterabscheidung. Das Argonionsspritzen ermöglicht dem Forscher, eine dünne Schicht eines Metalls oder Oxyde zur Beispieloberfläche zu schaffen, während die Argontraube stottert, stottern Absetzung und Kohlenstoff Absetzungsfähigkeiten berücksichtigen wirksamen elektrostatischen Überzug der Beispieloberfläche. Insgesamt ist JSM 6460LV ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das mit modernster Elektronenoptik und Instrumentensteuerungssoftware sowie zusätzlichen Funktionen wie Probenstufen für erhöhte Stabilität, Argon-Ionensputtern und verschiedenen Beschichtungsfähigkeiten ausgestattet ist. Dies macht es zu einer idealen Wahl für Forscher, die eine Vielzahl von Proben abbilden, erkennen und analysieren möchten.