Gebraucht JEOL JSM 6460LV #293764869 zu verkaufen

JEOL JSM 6460LV ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für eine Vielzahl von Anwendungen. Dieses anspruchsvolle Instrument bietet eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, einschließlich hochauflösender Bildgebung, Tiefenprofilierung, Röntgenabbildung und Bildgebung im chemischen Zustand. JEOL JSM-6460LV verwendet eine Elektronenquelle für Kaltfeld-Emissionskanonen (CEG), die eine hervorragende Bildauflösung unter Hochvakuum und lange Arbeitswege ermöglicht. Die CEG-Quelle bietet eine Lebensdauer von 10.000 Stunden und verfügt über eine Auflösung von 3 nm bei 30 kV und 1,2 nm bei 1 kV. Darüber hinaus bietet es die höchste Vergrößerung von bis zu 500 kx bei einem Arbeitsabstand von 10 mm. Das Instrument bietet eine Vielzahl von Abbildungsmodi, darunter Hellfeld, Dunkelfeld, Differentialinterferenzkontrast (DIC), Polarisationsanalyse und panchromatische Bildgebung. Es bietet auch Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD), die die Bestimmung der Textur und Orientierung von Materialien mit Nanometer-Auflösung ermöglicht. Zusätzlich kann EBSD mit Röntgenmapping kombiniert werden, um die Probenzusammensetzung im Nanometermaßstab zu analysieren. JSM 6460LV verfügt über eine „Jog-Shuttle“ -Stufe, die eine extrem präzise und genaue Musterpositionierung mit wiederholbarer Genauigkeit ermöglicht. Dies ist besonders nützlich für Anwendungen wie Tiefenprofilierung, die eine genaue Untersuchung zwei- und dreidimensionaler Strukturen tief in der Probe ermöglichen. Das erweiterte Analysatorsystem kann auf die spezifischen Bedürfnisse des Benutzers zugeschnitten werden; es bietet eine gleichzeitige Verwendung von bis zu fünf Detektoren, einschließlich eines Elektronenenergieverlustsystems, eines Röntgendetektors, eines Kathodolumineszenzdetektors (CL), eines Rückstreudetektors und eines analytischen Detektors. Für spezielle Anwendungen wie winkelaufgelöste Röntgenanalyse oder harte Röntgen- oder BSE-Bildgebung können weitere zwei Detektoren hinzugefügt werden. Schließlich verfügt JSM-6460LV auch über eine umfassende Software, die eine benutzerfreundliche Oberfläche für alle Messungen und Analysen bietet. Die Software bietet volle Kontrolle über Bildgebungsparameter und verfügt über eine Reihe von Bildanalyse- und Datenmodellierungstools. Auf diese Weise können Benutzer Daten einfach analysieren, manipulieren und interpretieren, um die Genauigkeit und Präzision zu erhöhen.