Gebraucht JEOL JSM 6460LV #293804660 zu verkaufen

JEOL JSM 6460LV Rasterelektronenmikroskop ist ein hoch fortgeschrittenes Forschungsinstrument, das eine breite Palette von Fähigkeiten für die Abbildung von Materialien auf der Nanoskala bietet. JEOL JSM-6460LV bietet eine Kombination aus hochauflösender Elektronenbildgebung, Elementaranalyse und effizienter Partikelanalyse. In Bezug auf die bildgebenden Fähigkeiten ist JSM 6460LV mit einer einzigartigen Kombination aus ultraschnellem Szintillator und hochfestem Bühnenantrieb ausgestattet. Dies hilft dem Mikroskop, außergewöhnliche Bilder mit einem hohen Signal-Rausch-Verhältnis und minimaler Drift zu erzeugen. Die effiziente Gestaltung des Sichtfeldes ermöglicht die Erfassung detaillierter Informationen im Betrachtungsbereich, während die aberrationsarmen Linsen ein scharfes Bild ohne Halos liefern. Für die Elementaranalyse ist JSM-6460LV mit einem hochmodernen energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) ausgestattet. Dieses Analysetool liefert hochgenaue Informationen über eine Reihe von Elementen in einer Probe. Zusätzlich ist JEOL JSM 6460LV mit einem integrierten Partikelanalysesystem (IPAS) für Partikelgrößenmessungen ausgestattet, das sowohl empfindlich als auch zuverlässig ist. JEOL JSM-6460LV verfügt auch über eine große Probenkammer, die es für größere Proben geeignet macht. Es ist mit verschiedenen Probenhaltern, wie Ringhaltern, Scheiben und Stiften kompatibel und ermöglicht eine schnelle und einfache Probenvorbereitung und -positionierung. Darüber hinaus sorgt der 32-Bit-Multi-Core-Prozessor von JSM 6460LV für eine schnelle Bildaufnahme und Datenverarbeitung. Kurz gesagt, JSM-6460LV ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende bildgebende Fähigkeiten, eine genaue Elementaranalyse und eine zuverlässige Partikelanalyse bietet. Es ist ein ideales Instrument für die Materialforschung auf der Nanoskala.