Gebraucht JEOL JSM 6460LV #9236116 zu verkaufen

JEOL JSM 6460LV Rasterelektronenmikroskop (SEM), ist ein leistungsfähiges bildgebendes Instrument zur Beobachtung von Proben im Nanoskalibereich. Dieses Modell ist in der Lage, hochauflösende Bilder von bis zu 50.000x mit einem Rückstreuelektronendetektor zu erzeugen, wodurch Benutzer eine wirksame und detaillierte Darstellung der Morphologie oder Struktur einer Probe erhalten. JEOL JSM-6460LV ist mit einer Feldemissionskanone ausgestattet, die einen hochwertigen Elektronenstrahl für die Hochvergrößerungsbildgebung erzeugt. Dies geschieht mit einer wesentlich niedrigeren Beschleunigungsspannung von 2kV, wodurch feinere Proben mit weniger Probenschäden als bei herkömmlichen SEMs beobachtet werden können. Darüber hinaus können die Untersucher ihre Einstellungen je nach Art der zu analysierenden Probe und den gewünschten Ergebnissen anpassen. JEOL 6460LV verfügt über eine integrierte Bildverarbeitungssoftware (Image Processing Suite), die mehrere Funktionen zur Bearbeitung von Beispielbildern enthält. Dazu gehören Filter zum Anpassen von Kontrastwerten, zum Korrigieren von sphärischen Aberrationen, zum Schärfen von Bildern, zum Entfernen von Rauschen, zum Anpassen der Helligkeit und mehr. Das Mikroskop verfügt auch über ein In-situ-Detektionsgerät (IDD), das hilft, viral infizierte Zellen zu identifizieren. JEOL 6460LV ist mit einer Advanced Low Vacuum (ALV) -Kammer ausgestattet, die eine Hochdruckkammer ist, die auf Drücke zwischen 15 und 500 mtorr betrieben werden kann. Dies ermöglicht es dem Anwender, Proben im Niedervakuum-Modus zu beobachten, mit minimalem Probenschaden und hoher Benutzerfreundlichkeit. Zusätzlich ist die ALV-Kammer mit einem automatisierten Gasspülsystem ausgestattet, das auch die Probenvorbereitung unterstützt. Andere Eigenschaften von JEOL 6460LV schließen eine Piezohebelscannereinheit ein, die genaue Musteranordnung und eine Elektronanordnungsmaschine des Balkens zur Probe berücksichtigt, für den Elektronbalken auf dem samplestage anzupassen. Darüber hinaus wird das JEOL-Modell um mehrere elektronische Schnittstellen erweitert, die den Betrieb mehrerer Benutzer erleichtern und den Datenaustausch zwischen dem Instrument und anderen Laborcomputern erleichtern. Beim Schließen ist JSM 6460LV ein modernes Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende und atemberaubende Bilder von Proben wie Nanodrähten und Nanoröhren bereitstellen kann. Dieses Modell verfügt über verschiedene erweiterte Bildgebungsfunktionen und eine vakuumarme Umgebung zur präzisen Abbildung empfindlicher Proben. Schließlich verfügt dieses Tool auch über mehrere Funktionen für eine genaue Bildverarbeitung sowie Laborautomatisierungsfunktionen zur Steigerung der Arbeitseffizienz.