Gebraucht JEOL JSM 6460LV #9244467 zu verkaufen

ID: 9244467
Weinlese: 2002
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM) Tungsten electron emission tip: 30 kV Vacuum / Gas pressure: 10-270 Pa Large specimen chamber With 5-Axes motorized Magnification: 5x - 3,00,000x (3) Segment solid state back scattered electron detectors: Composition mode imaging Topography mode imaging Shadow mode imaging Tungsten filament SEI, BEI in HV electron detectors BEI in LV electron detectors (2) Oil pumps included Operating system: Windows 2000 2002 vintage.
JEOL JSM 6460LV Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eines der fortschrittlichsten verfügbaren SEMs. Es ist ein Hochleistungsinstrument zur Abbildung von Oberflächen und zur Steuerung von Elektronenstrahl-Wechselwirkungen. Diese Ausrüstung ist ideal für Anwendungen, die eine hohe Auflösung mit überlegener Bildqualität erfordern. JEOL JSM-6460LV verfügt über ein schwingungsarmes, vakuumarmes Design für optimale Bildgebungsleistung. Es ist mit einem Wolframfaden und einer LaB6 Thermofeldemissionskanone für maximale Auflösung und Flexibilität ausgestattet. Das System verfügt auch über einen einzigartigen hochauflösenden Filter für Low-Energy-Bildgebung, so dass es feine Details wie sehr kleine Partikel und Defekte zu erfassen. JSM 6460LV verfügt über einen hochempfindlichen, rauscharmen Everhart-Thornley-Detektor für die SEM-Bildgebung. Es bietet einen überlegenen Dynamikbereich und eine schnelle Reaktionszeit, die eine zerstörungsfreie Abbildung von Oberflächenstrukturen ermöglicht. Der Detektor hat auch eine hohe Quanteneffizienz für maximale Detektionsempfindlichkeit. Die 6460LV Einheit ist mit einer automatisierten Fokusmaschine für höchste Genauigkeit und Präzision bei der Bildgebung ausgelegt. Dieses Werkzeug enthält auch einen Sekundärelektronendetektor zur Erfassung tiefer Informationen über Oberflächenstrukturen. Automatische Zentrierung und Stigmatisierung erleichtern die korrekte Ausrichtung der Probe. Dieses SEM verfügt über eine Hochgeschwindigkeitsstufe für das schnelle Scannen großer Proben. Es ist in der Lage, Proben bis zu 30 nm zu scannen. Das Asset verfügt zudem über eine Scangeschwindigkeit von bis zu 5.000 Bildern pro Sekunde zur schnellen Bilderfassung. JSM-6460LV Rasterelektronenmikroskop bietet die höchste Bildgebungsleistung in einem SEM. Sein vakuumarmes, vibrationsarmes Design, Everhart-Thornley-Detektor und leistungsstarke Funktionen machen dieses Modell ideal für detaillierte Oberflächenbildgebung. Mit seinen hochauflösenden Funktionen und automatisierten Funktionen können Anwender hochwertige Bildgebung mit höchster Genauigkeit erhalten.
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