Gebraucht JEOL JSM 6480LV #293597485 zu verkaufen

JEOL JSM 6480LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Vielzahl von Materialien analysieren kann. Es ermöglicht den Benutzern, die detaillierten morphologischen und elementaren Informationen der untersuchten Probe zu beobachten. JSM 6480LV ist mit einem Everhart-Thornley SE-Detektor für die sekundäre Elektronenbildgebung und einem One-Touch-Typ SEED für die BSE-Bildgebung ausgestattet. Es ist sowohl zur regelmäßigen SE- und BE-Bildgebung als auch zur Erzeugung von sekundären Elektronen-Rückstreubildern in der Lage. Darüber hinaus kann JEOL JSM 6480LV auch Rückstreuelektronenspektren erzeugen und Zeilenabtastungen zur Elementabbildung durchführen. Die Probenkammer von JSM 6480LV ist in der Lage, eine maximale Probengröße von 150 mm (5,9 Zoll) im Durchmesser und 250 mm (10,0 Zoll) in der Höhe zu erreichen, mit Probenträgerstufen mit einem einstellbaren X-Y-Bereich von 50mm (1,97 Zoll). Die Stufe ist aus einer sehr langlebigen Legierung aufgebaut, wodurch sie korrosions- und kratzfest ist. Neben dem Standard-SEM-Bildgebungsmodus ist JEOL JSM 6480LV mit Hilfe seines hochauflösenden variablen Druckes SEM (VP-SEM) in der Lage, Bilder mit hoher Auflösung zu erzeugen. Diese Funktion funktioniert, indem der Druck in der Probenkammer reduziert wird, was dazu beiträgt, den Kontrast und die Schärfe der Details in den resultierenden Bildern zu verbessern. JSM 6480LV ist mit einem Everhart-Thornley SE-Detektor für die sekundäre Elektronenbildgebung und einem Single-Scan-Controller für die BSE-Bildgebung ausgestattet. Es ist möglich, Rückstreuelektronenspektren zu erzeugen und Zeilenabtastungen für die Elementabbildung durchzuführen. Durch die Integration einer 5-Achsen-Apertur bietet JEOL JSM 6480LV auch erweiterte Bildgebungsfunktionen und Hochgeschwindigkeits-Bildgebung mit bis zu 8x Multi-Frame-Scanning. Ebenfalls im Lieferumfang von JSM 6480LV enthalten ist ein Signalprozessor, mit dem Benutzer die Detektorsignale anpassen können, um dem Ladeeffekt entgegenzuwirken und den Signaldynamikbereich und die Bildklarheit zu optimieren. Dieses SEM-Modell wird auch mit einer Autofokus-Funktion und digitalem Zoom geliefert, um einen schnellen Fokuswechsel zu ermöglichen. JEOL JSM 6480LV ist ein sehr vielseitiges SEM-System, das es Anwendern ermöglicht, die Details ihrer Proben mit Präzision und Genauigkeit zu erkunden. Mit seiner hochauflösenden Bildgebung, einer Vielzahl von bildgebenden Techniken und zusätzlichen Funktionen hat es das Potenzial, wertvolle Einblicke in die Struktur von Materialien zu geben und die Entwicklung neuer Materialien zu unterstützen.