Gebraucht JEOL JSM 6480LV #293802826 zu verkaufen

ID: 293802826
Weinlese: 2005
Scanning Electron Microscope (SEM) (3) Detectors: ET-SE BSE Low Vacuum Secondary Electron (LVSE) (2) Roughing pumps IR Chamber scope Chiller Deben cool stage unit Transformer Monitor Operating system: Windows XP PC 2005 vintage.
JEOL JSM 6480LV ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM), das in einer Reihe von wissenschaftlichen Forschungs-, Regierungs-, Bildungs- und Industrieanwendungen weit verbreitet ist. Im Vergleich zu herkömmlichen SEMs hat JSM 6480LV große Vorteile in Bezug auf Größe, Kosten und Leistung. JEOL JSM 6480LV unterstützt eine breite Palette von Vergrößerungen und erreicht bis zu 50.000x mit einer Auflösungsleistung von 1,5 nm bei 30kV. Mit seiner variablen Drucktechnologie können Anwender den Druck auf bis zu 0,1 Torr erhöhen und bieten so einen hervorragenden Kontrast und eine hervorragende Leistung für isolierende Materialien. Die FESEM-6480LV bietet auch hochgenaue Bildgebung mit einer hochauflösenden Kamera und Display-Ausgang. Die Digitalkamera bietet eine Bildvergrößerung von bis zu 25-fach der maximalen Bildgröße und Auflösung von bis zu 25.000 ×. Es verfügt auch über eine ergonomische Benutzeroberfläche mit einem intuitiven Steuersystem und einer grafischen Benutzeroberfläche, die eine schnelle und einfache Bedienung ermöglicht. Das 6480LV ist mit einem flüssigen stickstoffgekühlten Detektor ausgestattet, der Empfindlichkeit, Auflösung und Geschwindigkeit bietet. Der Detektor ist in der Lage, Partikel kleiner als 1,0 nm aufzulösen und bietet eine hervorragende Erkennungsleistung für Low-Kilovolt-Bildgebungsanwendungen. Es ermöglicht auch die Verwendung von elektrodynamischen Linsen, die die Auflösung und Leistung des Systems für größere Kilovolt-Anwendungen weiter steigern können. JSM 6480LV kommt vorinstalliert mit einer Reihe von erweiterten Funktionen und Tools einschließlich einer Stufenscanner-System, SE-Bildverarbeitungsfilter und in-Spalte Heide/Feld Emission Stromquelle. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, Funktionen wie Echtzeit-Manipulation des Scanbereichs, Verbesserung des Materialkontrasts, Beschattung von Proben und nanoskalige Bildgebungsfunktionen zu nutzen. Insgesamt bietet JEOL JSM 6480LV ein fortschrittliches, aber erschwingliches Rasterelektronenmikroskop, das eine Vielzahl von Anwendungen bedienen kann. Mit vollautomatisiertem Betrieb, zuverlässiger Leistung und vielseitigen bildgebenden Funktionen ist dieses Mikroskop eine ideale Wahl für heutige Forschungs- und Industrielabore.
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