Gebraucht JEOL JSM 6480LV #9249037 zu verkaufen

JEOL JSM 6480LV scanning electron microscope (SEM) ist ein Laborinstrument zur Analyse von Materialproben auf mikroskopischer Ebene. Es nutzt einen energiereichen Elektronenstrahl, um mit der Probe zu interagieren, was zu Datenformen führt, die auf der Wechselwirkung des Strahls mit der Probe basieren. JSM- 6480LV verfügt über einen Everhard-Thornley SE-Detektor (Sekundärelektron), der eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht, und einen modernen BSE-Detektor (Back-Scattered Electron), der eine effiziente BSE-Bildgebung ermöglicht. Es arbeitet mit einer niedrigen Beschleunigungsspannung, wodurch das SEM für die Untersuchung nichtleitender Proben geeignet ist. Die große Kammer ermöglicht eine einfache Positionierung und Manipulation verschiedener Proben, ohne dass eine Vakuumkammer erforderlich ist. JEOL JSM 6480LV SEM hat ein großes Sichtfeld für Proben bis zu einer Größe von 12 x 0,9 mm, wobei sich die Vergrößerung bis zu 500.000x erstreckt. Die hohe Auflösung des Instruments ermöglicht die 2D-Bildgebung und chemische Analyse komplizierter Strukturen und Merkmale in Materialproben und ist damit ein wirksames Werkzeug für Forschung und Entwicklung in der Nanotechnologie. Um zuverlässige wiederholbare Ergebnisse zu gewährleisten, verfügt JSM 6480LV über mehrere erweiterte Funktionen wie variable Spot-Bildgebung, um lokalisierte Änderungen in der Probe zu untersuchen, Rasterung Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) -Analyse zur Quantifizierung von Lichtelementen, eine eingebaute Röntgenminiesonde und EDX-Detektor für Elementaranalyse und eine umfassende Palette von Softwarepaketen, die eine automatische Ausrichtung von Proben und die Benutzerkontrolle über gesammelte Daten ermöglichen. JEOL JSM 6480LV ist ein ideales Werkzeug für die Forschung in einer Vielzahl von Bereichen wie Nanomaterialien, pharmazeutisches Arzneimitteldesign, MEMS-Produktion und forensische Untersuchung. Seine innovativen Eigenschaften und seine hervorragende bildgebende Qualität machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure, die eine breite Palette von Materialproben auf mikroskopischer Ebene visualisieren und analysieren müssen.