Gebraucht JEOL JSM 6480LV #9285443 zu verkaufen

JEOL JSM 6480LV Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches analytisches Instrument, das zur Abbildung und Analyse von dielektrischen und Metalloberflächen verwendet wird. JSM 6480LV bietet eine hochauflösende sekundäre Elektronenbildfähigkeit, die eine hervorragende Bildqualität mit außergewöhnlicher Schärfentiefe und verbessertem Signal-Rausch-Verhältnis ermöglicht. JEOL JSM 6480LV verfügt über einen großen Arbeitsabstand zwischen Probe und Detektor und ein großes Gesichtsfeld, wodurch ein größeres Maß an Detail. Die AE-Detektorkonfiguration mit einer Standardbildauflösung von bis zu Everhart-Thornley mit bis zu 3,5 nm seitlicher Auflösung und 5,2 nm Zeile pro Bildauflösung ermöglicht eine bessere Visualisierung kleiner Strukturen, Oberflächenmerkmale und Interferenzmuster von Proben. Das System beinhaltet auch eine spezielle Niedervakuum-Bildgebungstechnik, die eine Probenbildgebung ohne Probenvorbereitung ermöglicht. Dies ermöglicht die Erfassung physikalischer Merkmale im Mikrometer-Maßstab, ohne dass vor und während der Analyse Probenvorbereitungsbehandlungen durchgeführt werden müssen. JSM 6480LV wurde entwickelt, um eine umfassende Reihe analytischer Analysetechniken bereitzustellen, einschließlich rückgestreuter Elektronenbildgebung, chemischer Kartierung, energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS), Röntgenfluoreszenz (XRF) und Rasterschneckenmikroanalyse (SAM). Diese Techniken bieten mikrostrukturelle Analyse, chemische Zusammensetzung Identifizierung und elementare Kartierung mit hoher Präzision. JEOL JSM 6480LV enthält einen Auto-Sampler, der es ermöglicht, Proben zu vernarben und zur automatisierten Analyse in die Kammer zu legen, ohne dass eine manuelle Probenplatzierung erforderlich ist. Die hochenergieauflösende Ionenstrahlquelle sorgt für eine detaillierte chemische Bildgebung und Analyse. JSM 6480LV ist mit einer automatisierten Probenstufe ausgestattet, die es ermöglicht, große Proben kontinuierlich zu scannen und abzubilden, ohne dass manuelle Einstellungen oder eine erneute Positionierung der Probe erforderlich sind. Das System verfügt über eine computergesteuerte Ultrahochvakuumkammer (UHV) zur Probenmontage, die die Integrität der Oberfläche vor und während der Analyse gewährleistet. JEOL JSM 6480LV ist ein unschätzbares Werkzeug für die Untersuchung der physikalischen und chemischen Eigenschaften von Materialien für eine Reihe von Anwendungen wie Mikrofertigungsprozessoptimierung, Photovoltaik/Solarzellen, Nanomaterialien/Nanoelektronik und Fehleranalyse. Die hochauflösenden Funktionen ermöglichen eine präzise Bildgebung und Analyse komplexer Oberflächenmerkmale. Das System ist zuverlässig, robust und bietet Komfort und Flexibilität, was es zu einer vielseitigen Lösung für eine fortschrittliche Probenanalyse macht.