Gebraucht JEOL JSM 6500F #293625725 zu verkaufen

JEOL JSM 6500F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für akademische und industrielle bildgebende Anwendungen. Es ist ein erstklassiges Instrument mit einer Auflösung von 1 Nanometer und Hochgeschwindigkeits-Scan-Fähigkeiten. JEOL JSM-6500 F wird von einer elektronenoptischen Säulenstruktur mit einer Elektronenpistole vom Typ EC-CS, die hochauflösende SEM-Bilder liefert, und einer JEOL-patentierten Aberrationskorrektur angetrieben, die die Bildqualität verbessert und gleichzeitig Strahlenschäden an bildgebenden Proben reduziert. JSM 6500F kommt auch mit einem unterstützenden Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (XEDS) Detektor und eine JEOL proprietäre Vakuum-Ausrüstung. Der XEDS-Detektor bietet eine Vielzahl von Elementen und Energien, die Analysen von Probenelementen wie Kohlenstoff und Stickstoff ermöglichen. In Kombination mit dem Vakuumsystem hält JSM-6500 F während der gesamten Abtastung und Analyse sicher ein hohes Maß an Vakuum aufrecht. JEOL JSM 6500F hat ein großes Sichtfeld von 8 x 10 mm bis 40 x 40 mm und kann sowohl große als auch kleine Muster abbilden. Die kombinierte Elektronenoptik und die Abtasteinheit ermöglichen es JEOL JSM-6500 F, großflächige Bilder mit hohen Auflösungen bis zu 1 Nanometer zu erfassen. Diese kombinierte Maschine kann verwendet werden, um die Struktur von nahezu jedem Material zu messen und zu analysieren. Darüber hinaus verfügt JSM 6500F über eine digitale Bildverarbeitungssuite zur Verbesserung der Bildklarheit, des Zugriffs auf Rauschfilter sowie der Helligkeit und des Kontrasts für die spezielle Bildgebung. Für Anwender, die spezielle Anwendungen durchführen, kann JSM-6500 F mit einer Vielzahl von Zusatzkomponenten ausgestattet werden. Dazu gehören ein Energiefilterwerkzeug zur Einstellung der im Elektronenstrahl enthaltenen Energie, ein multimodales automatisches Bildaufnahmegerät (AIA), das mehrere Abbildungsmodi, STEM- und SEM-Detektoren integrieren kann, und eine automatisierte Probenstufe, um eine genaue Probenplatzierung zu ermöglichen. Insgesamt ist JEOL JSM 6500F ein leistungsstarkes, zuverlässiges und vielseitiges SEM mit hoher Auflösung, ausgezeichneter Bildqualität und einer Vielzahl von Funktionen. Mit seinem umfangreichen Angebot an bildgebenden Optionen bietet es eine großartige Plattform für fortgeschrittene Forschungs-, Industrie- und Bildungsanwendungen.