Gebraucht JEOL JSM 6500F #293814504 zu verkaufen

JEOL JSM 6500F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle. Dieses Instrument verfügt über einen einzigartigen beschleunigenden Spannungsbereich von 0,5 bis 40 kV, so dass Benutzer das Gerät mit jeder Spannung in diesem Bereich bedienen können, wodurch sie eine verbesserte Flexibilität für die Anwendung erhalten. Dieses System bietet eine hervorragende hochauflösende Leistung und eine hohe Kontrastabbildung. Der In-Linsen-Sekundärelektronendetektor (SE) ermöglicht eine direkte euzentrische Positionseinstellung des SE-Detektors zur optimalen Strahlpositionierung und Bilderfassung. Die fortschrittliche kurzfristige Driftkorrektureinheit sorgt für minimale Drift und ermöglicht automatisiertes Scannen und Navigation. JEOL JSM-6500 F nutzt eine einzigartige Multi-Server-Struktur, die den Fernbetrieb und die automatische Datenerfassung von verteilten Quellen und Detektoren ermöglicht. Diese Maschine enthält auch ein hocheffizientes Signalsynthesewerkzeug, das die Primär- und Sekundärelektronensignale für Bilder mit hohem Signal-Rausch-Verhältnis verstärkt und integriert. Es bietet dem Anwender auch ein fortgeschrittenes „tomographisches“ Bildgebungsverfahren, das zwei oder mehr SE-Detektoren für die 3D-Bildrekonstruktion verwendet. JSM 6500F enthält einen integrierten Low-Winkel-SE-Detektor für optimale Oberflächenbildgebung und einen multisegmentierten SE-Detektor für überlegene Metall- oder Schattenbildgebung. Die fortschrittliche energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDXS) ermöglicht die gleichzeitige Messung chemischer Elemente in der Probe. Die Steuerungssoftware ist sehr benutzerfreundlich und anpassbar, was eine einfache Einrichtung von Experimenten und eine einfache Erfassung von Daten ermöglicht. JSM-6500 F ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop, das außergewöhnliche bildgebende Leistung und Kontrast bietet. Dieses Modell ist sehr zuverlässig und eignet sich für eine Vielzahl von Forschungs-, Industrie- und materialwissenschaftlichen Anwendungen. Es ist mit zahlreichen innovativen Funktionen ausgestattet, die einen automatischen und effizienten Betrieb ermöglichen. Die überlegene Bildgebungsfähigkeit und die flexiblen Eigenschaften machen JEOL JSM 6500F ein leistungsfähiges und unverzichtbares Instrument für alle, die an der SEM-Bildgebung beteiligt sind.