Gebraucht JEOL JSM 6500F #293815794 zu verkaufen

JEOL JSM 6500F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für ein breites Anwendungsspektrum. Dieses fortschrittliche Mikroskopie-Tool bietet einzigartige Leistungsstufen und Flexibilität für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Aufgaben. JEOL JSM-6500 F verfügt über einen einzigartigen variablen Druckmodus und ein neues, hochmodernes weites Sichtfeld-Detektor, das einen größeren Probenbereich mit hervorragender Klarheit erfasst. Mit dem optionalen automatischen Waffenausrichtsystem werden bildgebende und analytische Aufgaben schneller und genauer. Das Waffenausrichtungssystem stellt den Objektivfokus, den Waffenstrom und die Neigung des Objektivs schnell und genau ein. JSM 6500F SEM enthält auch fortschrittliche Bildgebungssoftware zur Verbesserung von Workflows. Die leistungsstarke automatisierte motorische Bühnenbewegung des SEM ermöglicht eine schnelle und präzise Bildgebung mit Panorama- und vorprogrammierten Bewegungen. Sein digitales Bildgebungssystem ermöglicht es dem Benutzer, schärfere Bilder von Proben zu erfassen. JSM-6500 F ist ein leistungsstarkes SEM mit einem extrem kleinen Source-to-Sample-Abstand. Dieser nahezu nullte Source-to-Sample-Abstand gibt dem Instrument eine super hohe Auflösung, die die Erfassung selbst feinster Details ermöglicht. Dieses Instrument bietet hochauflösende Bildgebungsfunktionen und automatisierte Parameter zur Erzielung von Bildklarheit. JEOL JSM 6500F unterstützt eine Reihe von Techniken zur Probenvorbereitung und -analyse. Es ermöglicht beispielsweise den Einsatz von spezialisierten Haltern für Messungen an großen Proben oder Proben mit gekrümmten Oberflächen. Es unterstützt auch die Verwendung von strahlempfindlichen und leitfähigen Materialien, variablen Fokus und Kontrast sowie die Integration hochauflösender Bildgebung mit verschiedenen Arten von energiedispersiver Spektroskopie (EDS). All diese Eigenschaften machen JEOL JSM-6500 F zu einem leistungsstarken und vielseitigen Rasterelektronenmikroskop. Dieses Instrument ermöglicht es professionellen Anwendern, eine Reihe von Proben aus einer Vielzahl von Bereichen wie Materialwissenschaft, Halbleiter und Nanowissenschaften, Forensik, Metallurgie und mehr zu analysieren. JSM 6500F Rasterelektronenmikroskop ist das perfekte Werkzeug für jedes Labor, das ein zuverlässiges und genaues SEM-Werkzeug benötigt.