Gebraucht JEOL JSM 6500F #9180119 zu verkaufen

JEOL JSM 6500F ist eine Art Rasterelektronenmikroskop (SEM), das verwendet wird, um eine Reihe von Proben an der Nanoskala zu beobachten. Es bietet überlegene Auflösung Bildgebung, elementare und chemische Analyse von Proben, sowie eine Reihe von Funktionen für Hoch- und niedrig vergrößert Bildgebung. JEOL JSM-6500 F arbeitet sowohl im variablen Druck (VP) als auch im Hochvakuum (HV) -Modus und ist damit ein vielseitiges Instrument für die Bildgebung mit niedriger und hoher Auflösung. Seine VP-Funktion ermöglicht eine Überwachung der Probenoberfläche im Niedervakuum und eliminiert die Notwendigkeit eines Kryopumpsystems, wodurch die Probenvorbereitung verbessert wird. Es ist auch mit einem Umgebungsrauschfilter ausgestattet, der nicht-wissenschaftliche Signale reduziert und den Anwendern einen klareren Überblick über die Probentopographie gibt. Im bildgebenden Modus kann JSM 6500F bis zu 200.000x vergrößern und bietet präzise Details der Struktur einer Probe. Es erleichtert auch die Erkennung von Oberflächenmerkmalen bei niedrigen Vergrößerungen, so dass der Benutzer Anomalien erkennen kann. Zusammen mit bildgebenden Fähigkeiten ist das Mikroskop mit spezifischen Detektoren ausgestattet, die eine chemische oder elementare Analyse einer Probe mit Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen und Röntgenstrahlen durchführen können. JSM-6500 F verfügt außerdem über eine Reihe von Signalstabilisierungsmerkmalen wie rauscharme Schaltungen für optimale Auflösung und Signal-Rausch-Verhältnis sowie einen Mehrkanalverstärker für Probenoberflächenmessungen. Darüber hinaus verwendet der Bereich eine automatisierte Bildoptimierungstechnologie, die es ermöglicht, den Bildkontrast für verschiedene Muster genau zu optimieren. Dieses SEM ist auch mit einem Gasinjektormodul ausgestattet, um der Probe einen sanften Fluss von Inertgas wie Argon oder Stickstoff zur besseren Auflösung zu ermöglichen. Sein In-Linsen-Sekundärelektronendetektor ermöglicht auch verbesserte Abbildungsergebnisse und eine hohe laterale Auflösung. Zur Bedienbarkeit wird JEOL JSM 6500F über eine computergesteuerte GUI betrieben. Seine Touchscreen-Schnittstelle kann verwendet werden, um Setup-Parameter wie Elektronenstrom, beschleunigende Spannung und Fokus anzupassen. Es enthält auch eine Reihe von Bildanpassungswerkzeugen wie Helligkeit, Kontrast, Schärfe und Sättigung, so dass Benutzer Bilder an ihre Bedürfnisse anpassen können. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist ein vielseitiges und zuverlässiges Instrument zur Beobachtung und Analyse von fluoreszierenden Materialien, Polymeren und biologischen Proben. Mit seiner überlegenen Auflösung, fortschrittlicher Bildgebungstechnologie und einer praktischen Touchscreen-Schnittstelle ist JEOL JSM-6500 F ein ideales Instrument für verschiedene Laboranwendungen.