Gebraucht JEOL JSM 6510 #293601626 zu verkaufen

JEOL JSM 6510 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung und Analyse. JSM 6510 verwendet eine Hochleistungs-Elektronensäule für eine qualitativ hochwertige Abbildung und höhere Beschleunigungsspannung (bis zu 100 kV). Diese Hochleistungs-Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) mit kleiner Punktgröße, großem Arbeitsabstandsbereich und geringer Elektronenstrahldivergenz ermöglicht präzise Bildgebung und Messungen. JEOL JSM 6510 verfügt auch über einen dreidimensionalen In-Linsen-Sekundärelektronendetektor, der das Risiko von Signalrauschen durch die Emission von Streuelektronen minimiert. Darüber hinaus verfügt der 6510 über einen optionalen In-Linsen-Rückstreuelektronendetektor, der die Erzeugung eines Dual-Detektor-Bildes ermöglicht, um Topographie und chemische Zusammensetzung in einer einzigen Erfassung zu analysieren. Die 6510 verfügt auch über eine Reihe von benutzerfreundlichen Funktionen, um den effizientesten Workflow zu erleichtern. Beispielsweise ermöglicht die motorisch angetriebene Stufe für große Proben eine schnelle und genaue Stufenpositionierung sowohl für die bildgebende als auch für die automatisierte Probenanalyse. Die mit JSM 6510 kompatible Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM) ermöglicht eine hochauflösende Z-Kontrast-Abbildung und elementare Abbildung. Darüber hinaus ermöglicht der kontrastreiche Hellfeldabbildungsmodus eine hochbilaterale Beobachtung kristallographischer Ebenen und der Mikrostrukturen der Probe. Insgesamt ermöglicht JEOL JSM 6510 eine einfache und präzise Analyseplattform für fortgeschrittene Bildgebung und Analyse. Dazu gehören hochauflösende bildgebende und technische Analysen, chemische Analysen und Materialcharakterisierung. Darüber hinaus ermöglicht die 6510 'Gallium' Scan-Funktion eine' Chromatic Aberration Correction 'mit computergestützten Bildverarbeitungsfunktionen und ist somit eine ideale Wahl für eine detaillierte Beobachtung sowie eine quantitative Nanoanalyse.