Gebraucht JEOL JSM 6510 #293656752 zu verkaufen

JEOL JSM 6510 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um eine ultrahochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben bereitzustellen. Das Gerät verfügt über eine breite Palette von Fähigkeiten von Niederdruck-Bildgebung bis hin zur Massenelementanalyse. JSM 6510 verwendet eine einzige großflächige Feldemissionselektronenquelle, die in der Lage ist, Strahlen unter 0,2 Nanometer (nm) Breite zu erzeugen. Dieser kleine Strahldurchmesser ermöglicht ultrahohe Vergrößerung Bildgebung und Analyse, in der Lage, Funktionen so klein wie 0,4 nm auflösen. Die Hochvakuumkammer verhindert Störungen durch Luftmoleküle und liefert scharfe, klare Bilder mit minimaler Verzerrung. JEOL JSM 6510 verfügt über eine breite Palette von Detektoren zur Messung von sekundären oder zurück gestreuten Elektronen (BSE), sekundären Elektronen (SE), reflektierter Ladung und transmittierten Elektronen (TE). Der BSE-Detektor ist hochempfindlich und effektiv bei der Herstellung hochwertiger Bildgebung, während der SE-Detektor empfindlicher auf Oberflächenmerkmale und Feinstruktur reagiert. Die reflektierten Ladungs- und TE-Detektoren können zur zerstörungsfreien elementaren Abbildung verwendet werden. JSM 6510 ist mit einer umfassenden Suite von Software und Hardware ausgestattet, um den Strahl zu steuern, die Bilddaten zu verwalten und komplexe Änderungen vorzunehmen, um Bilder bei der höchstmöglichen Auflösung zu erfassen. Die automatisierten Bildgenerierungs- und Analysefunktionen der Software, gepaart mit den flexiblen Hardwaresteuerungen, machen das System einfach und intuitiv zu erlernen und zu bedienen. Zum JSM gehört auch ein automatischer Probenwechsler, der eine schnelle und einfache Inspektion mehrerer Proben ermöglicht. Dies trägt zur Maximierung von Workflow und Durchsatz bei. Darüber hinaus kann das Gerät in einer Vielzahl von Umgebungen betrieben werden, von der Niedervakuumbildgebung bis zur Hochdruckbildgebung. Die Steuerungsmaschine ist von Natur aus sicher, mit einem ausfallsicheren Design, um maximale Sicherheit für Forscher zu gewährleisten. Insgesamt ist JEOL JSM 6510 ein leistungsstarkes und vielseitiges SEM, das für hochauflösende Bildgebung und Analyse in einer Vielzahl von Umgebungen und Probentypen entwickelt wurde. Seine umfassende Suite an Software- und Hardware-Management-Tools machen es einfach zu bedienen und hocheffizient, ideal für jedes Forschungslabor.